51 - 100 из 144Размер страницы: 50
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2022

  2. Interaction of low-fluence femtosecond laser pulses with a composite layer containing Ge nanoclusters: A novel type of nanofoam formation

    Astankova, K. N., Kozhukhov, A. S., Krivyakin, G. K., Zhivodkov, Y. A., Sheglov, D. V. & Volodin, V. A., 1 мая 2022, в: Journal of Laser Applications. 34, 2, 022002.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Radiation-Induced Nucleation and Growth of CaSi2 Crystals, Both Directly during the Epitaxial CaF2 Growth and after the CaF2 Film Formation

    Dvurechenskii, A. V., Kacyuba, A. V., Kamaev, G. N., Volodin, V. A. & Smagina, Z. V., 1 мая 2022, в: Nanomaterials. 12, 9, 1407.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Nanostructured silver substrates produced by cluster-assisted gas jet deposition for surface-enhanced Raman spectroscopy

    Starinskiy, S. V., Safonov, A. I., Shukhov, Y. G., Sulyeva, V. S., Korolkov, I. V., Volodin, V. A., Kibis, L. S. & Bulgakov, A. V., мая 2022, в: Vacuum. 199, 110929.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Diffusion of Germanium from a Buried SiO2 Layer and Formation of a SiGe Phase

    Tyschenko, I. E., Khmelnitsky, R. A., Saraykin, V. V., Volodin, V. A. & Popov, V. P., мар. 2022, в: Semiconductors. 56, 3, стр. 215-222 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Formation of germanium nanocrystals and amorphous nanoclusters in GeSiOx films using electron beam annealing

    Zhang, F., Volodin, V. A., Baranov, E. A., Konstantinov, V. O., Shchukin, V. G., Zamchiy, A. O. & Vergnat, M., мар. 2022, в: Vacuum. 197, 110796.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Graphene/Hexagonal Boron Nitride Composite Nanoparticles for 2D Printing Technologies

    Antonova, I. V., Shavelkina, M. B., Poteryaev, D. A., Nebogatikova, N. A., Ivanov, A. I., Soots, R. A., Gutakovskii, A. K., Kurkina, I. I., Volodin, V. A., Katarzhis, V. A., Ivanov, P. P. & Bocharov, A. N., мар. 2022, в: Advanced Engineering Materials. 24, 3, 2100917.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Nanostructuring of CVD graphene by high-energy heavy ions

    Antonova, I. V., Nebogatikova, N. A., Erohin, S. V., Prenas, V. A., Smovzh, D. V., Suprun, E. A., Volodin, V. A., Olejniczak, A. & Sorokin, P. B., мар. 2022, в: Diamond and Related Materials. 123, 108880.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. The Influence of Argon Cluster Ion Bombardment on the Characteristics of AlN Films on Glass-Ceramics and Si Substrates

    Nikolaev, I. V., Geydt, P. V., Korobeishchikov, N. G., Kapishnikov, A. V., Volodin, V. A., Azarov, I. A., Strunin, V. I. & Gerasimov, E. Y., 1 февр. 2022, в: Nanomaterials. 12, 4, 670.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Erratum to: Gold-Induced Crystallization of Thin Films of Amorphous Silicon Suboxide (Technical Physics Letters, (2021), 47, 10, (726-729), 10.1134/S1063785021070257)

    Lunev, N. A., Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Merkulova, I. E., Konstantinov, V. O., Korolkov, I. V., Maximovskiy, E. A. & Volodin, V. A., февр. 2022, в: Technical Physics Letters. 48, 2, стр. 95 1 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › комментарий, выступление › Рецензирование

  11. Light sensitive memristors based on GeSixOy films with Ge nanoclusters

    Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Yushkov, I. D., Krivyakin, G. K., Cherkova, S. G. & Vergnat, M., 31 янв. 2022, International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2021. Lukichev, V. F. & Rudenko, K. V. (ред.). SPIE, 121570A. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; том 12157).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  12. Study of structural and optical properties of a dual-band material based on tin oxides and GeSiSn compounds

    Timofeev, V. A., Mashanov, V. I., Nikiforov, A. I., Loshkarev, I. D., Gulyaev, D. V., Volodin, V. A., Kozhukhov, A. S., Komkov, O. S., Firsov, D. D. & Korolkov, I. V., 30 янв. 2022, в: Applied Surface Science. 573, 151615.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  13. Determination of the infrared absorption cross-section of the stretching vibrations of Ge–O bonds in GeOx films

    Zhang, F., Volodin, V. A., Astankova, K. N., Kamaev, G. N., Azarov, I. A., Prosvirin, I. P. & Vergnat, M., янв. 2022, в: Results in Chemistry. 4, 100461.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  14. IR Photoluminescence of Silicon Irradiated with High-Energy Xe Ions after Annealing

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 2022, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 58, 6, стр. 633-642 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  15. Nonstoichiometric Germanosilicate Films on Silicon for Microelectronics: Memristors and Other Applications

    Volodin, V. A., Zhang, F., Yushkov, I. D., Yin, L. & Kamaev, G. N., 2022, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 58, 6, стр. 584-593 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  16. Picosecond infrared laser crystallization of Ge layers in Ge/Si multi-nanolayers for optoelectronic applications

    Volodin, V. A., Krivyakin, G. K., Bulgakov, A. V., Levy, Y., Beránek, J., Nagisetty, S., Bryknar, Z., Bulgakova, N. M., Geydt, P. V. & Popov, A. A., 2022, International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2021. Lukichev, V. F. & Rudenko, K. V. (ред.). SPIE, 1215702. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; том 12157).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  17. 2021

  18. Программа для моделирования спектров инфракрасного поглощения и отражения твердотельными плёнками в рамках модели Друде-Лоренца без учёта интерференции

    Володин, В. А. & Шабалов, Н. А., 8 дек. 2021, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2021680259, Дата приоритета 29 нояб. 2021, № приоритета 2021669374

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации программы для ЭВМ

  19. Optical properties of GeO[SiO] and GeO[SiO2] solid alloy layers grown at low temperature

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Zhang, F., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., дек. 2021, в: Optical Materials. 122, 111736.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  20. Synthesis of Si nanoparticle chains and nanowhiskers by the monosilane decomposition in an adiabatic process during cyclic compression

    Ezdin, B. S., Kalyada, V. V., Yatsenko, D. A., Ischenko, A. V., Volodin, V. A. & Shklyaev, A. A., дек. 2021, в: Powder Technology. 394, стр. 996-1003 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  21. Laser annealing of epitaxial CaF2 films on Si

    Dvurechenskii, A. V., Smagina, Z. V., Volodin, V. A., Kacyuba, A. V., Zinovyev, V. A., Ivlev, G. D. & Prakopyeu, S. L., 1 окт. 2021, в: Thin Solid Films. 735, 138898.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  22. Atomic Structure and Optical Properties of CaSi2 Layers Grown on CaF2/Si Substrates

    Zinovyev, V. A., Kacyuba, A. V., Volodin, V. A., Zinovieva, A. F., Cherkova, S. G., Smagina, Z. V., Dvurechenskii, A. V., Krupin, A. Y., Borodavchenko, O. M., Zhivulko, V. D. & Mudryi, A. V., окт. 2021, в: Semiconductors. 55, 10, стр. 808-811 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  23. Gold-Induced Crystallization of Thin Films of Amorphous Silicon Suboxide

    Lunev, N. A., Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Merkulova, I. E., Konstantinov, V. O., Korolkov, I. V., Maximovskiy, E. A. & Volodin, V. A., окт. 2021, в: Technical Physics Letters. 47, 10, стр. 726-729 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  24. Anisotropy of optical phonons in biaxially stressed zinc-blende- and diamond-type semiconductors and alloys

    Volodin, V. A. & Sachkov, V. A., 1 авг. 2021, в: Physica B: Condensed Matter. 614, 413008.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  25. Vertical Ordering of Amorphous Ge Nanoclusters in Multilayer a-Ge/a-Si:H Heterostructures

    Kamaev, G. N., Volodin, V. A. & Krivyakin, G. K., авг. 2021, в: Technical Physics Letters. 47, 8, стр. 609-612 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  26. Synthesis of High-Purity Basic Bismuth(III) Succinate as a Pharmaceutical Substance

    Timakova, E. V., Bun’kova, E. I., Afonina, L. I., Yukhin, Y. M. & Volodin, V. A., июл. 2021, в: Russian Journal of Applied Chemistry. 94, 7, стр. 911-919 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  27. Layer exchange during aluminum-induced crystallization of silicon suboxide thin films

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Merkulova, I. E., Korolkov, I. V., Vdovin, V. I., Gutakovskii, A. K. & Volodin, V. A., 15 июн. 2021, в: Materials Letters. 293, 129723.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  28. Atomic Structure and Optical Properties of Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposited SiCOH Low-k Dielectric Film

    Kruchinin, V. N., Volodin, V. A., Rykhlitskii, S. V., Gritsenko, V. A., Posvirin, I. P., Shi, X. & Baklanov, M. R., июн. 2021, в: Optics and Spectroscopy. 129, 6, стр. 645-651 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  29. Crystal structure of thin CaSi2 films grown by radiation-induced epitaxy

    Kacyuba, A. V., Dvurechenskii, A. V., Kamaev, G. N., Volodin, V. A. & Krupin, A. Y., 15 мая 2021, в: Journal of Crystal Growth. 562, 126080.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  30. Growth of Bi2Se3/graphene heterostructures with the room temperature high carrier mobility

    Antonova, I. V., Nebogatikova, N. A., Stepina, N. P., Volodin, V. A., Kirienko, V. V., Rybin, M. G., Obrazstova, E. D., Golyashov, V. A., Kokh, K. A. & Tereshchenko, O. E., мая 2021, в: Journal of Materials Science. 56, 15, стр. 9330–9343 14 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  31. Electron-Beam Crystallization of Thin Films of Amorphous Silicon Suboxide

    Baranov, E. A., Konstantinov, V. O., Shchukin, V. G., Zamchiy, A. O., Merkulova, I. E., Lunev, N. A. & Volodin, V. A., мар. 2021, в: Technical Physics Letters. 47, 3, стр. 263-265 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  32. 2020

  33. Raman scattering study of nanoscale Mo/Si and Mo/Be periodic multilayer structures

    Kumar, N., Volodin, V. A., Smertin, R. M., Yunin, P. A., Polkovnoikov, V. N., Panda, K., Nechay, A. N. & Chkhalo, N. I., 1 дек. 2020, в: Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films. 38, 6, 7 стр., 063408.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  34. Resistive switching in non-stoichiometric germanosilicate glass films containing ge nanoclusters

    Volodin, V. A., Geydt, P., Kamaev, G. N., Gismatulin, A. A., Krivyakin, G. K., Prosvirin, I. P., Azarov, I. A., Fan, Z. & Vergnat, M., дек. 2020, в: Electronics (Switzerland). 9, 12, стр. 1-17 17 стр., 2103.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  35. Structure of Germanium Monoxide Thin Films

    Astankova, K. N., Volodin, V. A. & Azarov, I. A., дек. 2020, в: Semiconductors. 54, 12, стр. 1555-1560 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  36. Effect of Interfaces and Thickness on the Crystallization Kinetics of Amorphous Germanium Films

    Krivyakin, G. K., Volodin, V. A., Kamaev, G. N. & Popov, A. A., 1 июл. 2020, в: Semiconductors. 54, 7, стр. 754-758 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  37. Negative and Positive Photoconductivity and Memristor Effect in Alloyed GeO[SiO] Films Containing Ge Nanoclusters

    Volodin, V. A., Kamaev, G. N. & Vergnat, M., 1 июл. 2020, в: Physica Status Solidi - Rapid Research Letters. 14, 7, 6 стр., 2000165.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  38. Infrared photoluminescence from GeO[SiO2] and GeO[SiO] solid alloy layers irradiated with swift heavy Xe ions

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., июл. 2020, в: Journal of Luminescence. 223, 4 стр., 117238.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  39. Femtosecond Laser Annealing of Multilayer Thin-Film Structures Based on Amorphous Germanium and Silicon

    Kolchin, A. V., Shuleiko, D. V., Pavlikov, A. V., Zabotnov, S. V., Golovan, L. A., Presnov, D. E., Volodin, V. A., Krivyakin, G. K., Popov, A. A. & Kashkarov, P. K., 1 июн. 2020, в: Technical Physics Letters. 46, 6, стр. 560-563 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  40. High-Temperature PIN Diodes Based on Amorphous Hydrogenated Silicon-Carbon Alloys and Boron-Doped Diamond Thin Films

    Stuchlikova, T. H., Stuchlik, J., Remes, Z., Taylor, A., Mortet, V., Ashcheulov, P., Gregora, I., Krivyakin, G. & Volodin, V., 1 июн. 2020, в: Physica Status Solidi (B) Basic Research. 257, 6, 6 стр., 1900247.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  41. Indium-Induced Crystallization of Thin Films of Amorphous Silicon Suboxide

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Merkulova, I. E., Lunev, N. A., Volodin, V. A. & Maksimovskii, E. A., 1 июн. 2020, в: Technical Physics Letters. 46, 6, стр. 583-586 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  42. Radiation-Induced epitaxial CaSi2 film growth at the molecular-beam epitaxy of CaF2 on Si

    Kacyuba, A. V., Dvurechenskii, A. V., Kamaev, G. N., Volodin, V. A. & Krupin, A. Y., 1 июн. 2020, в: Materials Letters. 268, 4 стр., 127554.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  43. On Raman scattering cross section ratio of amorphous to nanocrystalline germanium

    Hao, Z., Kochubei, S. A., Popov, A. A. & Volodin, V. A., июн. 2020, в: Solid State Communications. 313, 4 стр., 113897.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  44. Formation of SnO and SnO2 phases during the annealing of SnO(x) films obtained by molecular beam epitaxy

    Nikiforov, A., Timofeev, V., Mashanov, V., Azarov, I., Loshkarev, I., Volodin, V., Gulyaev, D., Chetyrin, I. & Korolkov, I., 15 мая 2020, в: Applied Surface Science. 512, 7 стр., 145735.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  45. Chemical Vapor Deposition of Silicon Nanoparticles on the Surface of Multiwalled Carbon Nanotubes

    Zavorin, A. V., Kuznetsov, V. L., Moseenkov, S. I., Tsendsuren, T. O., Volodin, V. A., Galkin, P. S. & Ishchenko, A. V., 1 апр. 2020, в: Journal of Structural Chemistry. 61, 4, стр. 617-627 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  46. On the Formation of Amorphous Ge Nanoclusters and Ge Nanocrystals in GeSixOy Films on Quartz Substrates by Furnace and Pulsed Laser Annealing

    Zhang Fan, F., Kochubey, S. A., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Semiconductors. 54, 3, стр. 322-329 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  47. Quantum Size Effects in Germanium Nanocrystals and Amorphous Nanoclusters in GeSi xO y Films

    Gambaryan, M. P., Krivyakin, G. K., Cherkova, S. G., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Physics of the Solid State. 62, 3, стр. 492-498 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  48. Fabrication of polycrystalline silicon thin films from a-SiOx via the inverted aluminum-induced layer exchange process

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Maximovskiy, E. A., Volodin, V. A., Vdovin, V. I., Gutakovskii, A. K. & Korolkov, I. V., 15 февр. 2020, в: Materials Letters. 261, 4 стр., 127086.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  49. Electronic structure and nanoscale potential fluctuations in strongly nonstoichiometric PECVD SiOx

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Krivyakin, G. K., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., 1 февр. 2020, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 529, 4 стр., 119796.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  50. 2019

  51. Electroluminescence of thin film p-i-n diodes based on a-SiC:H with integrated Ge nanoparticles

    Remes, Z., Stuchlik, J., Stuchlikova, T., Kupcik, J., Mortet, V., Taylor, A., Ashcheulov, P. & Volodin, V. A., 1 дек. 2019, в: EPJ Applied Physics. 88, 3, 6 стр., 19025.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  52. Study of Structural Modification of Composites with Ge Nanoclusters by Optical and Electron Microscopy Methods

    Astankova, K. N., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A., Volodin, V. A. & Latyshev, A. V., 1 дек. 2019, в: Semiconductors. 53, 16, стр. 2064-2067 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  53. Nanosized Potential Fluctuations in SiOx Synthesized by Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Novikov, Y. N., Kamaev, G. N., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., дек. 2019, в: Physics of the Solid State. 61, 12, стр. 2560-2568 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  54. Luminescence Properties of FZ Silicon Irradiated with Swift Heavy Ions

    Cherkova, S. G., Skuratov, V. A. & Volodin, V. A., 6 нояб. 2019, в: Semiconductors. 53, 11, стр. 1427-1430 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 Далее

ID: 3443008