Лаборатория функциональной диагностики низкоразмерных структур для наноэлектроники

Контактное лицо

Результаты исследований

  1. Многоуровневая мемристорная структура на основе аморфного кремния

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрациипатент на полезную модель

  2. Femtosecond Laser Crystallization of Ultrathin a-Ge Films in Multilayer Stacks with Silicon Layers

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Influence of Ge nanolayers on the resistive switching effect in amorphous hydrogenated silicon based structures

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья по материалам конференцииРецензирование

Просмотреть все (13) »

ID: 17021903