Результаты исследований

1. Resonance Raman Scattering of Topological Insulators Bi2Te3 and Bi2 − xSbxTe3 − ySey Thin Films

   Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

2. Polarization-resolved resonant Raman excitation of surface and bulk electronic bands and phonons in MBE-grown topological insulator thin films

   Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

3. Nature of the Pits on the Lattice-Matched InAlAs Layer Surface Grown on the (001) InP Substrate

   Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Просмотреть все (47) »