Аналитический и технологический исследовательский центр "Высокие технологии и наноструктурированные материалы" ФФ

Контактное лицо

Лаборатория функциональной диагностики низкоразмерных структур для наноэлектроники

Контактное лицо

Результаты исследований

  1. Polarization-dependent TERS imaging of a single AlN nanorod

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  2. Effect of substrate temperature on the mechanical stresses in aluminum nitride films prepared by pulsed DC magnetron sputtering

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Study of localized phonon in ultrananocrystalline diamond films investigated by Raman spectroscopy

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

Просмотреть все (49) »

ID: 3531896