Аналитический и технологический исследовательский центр "Высокие технологии и наноструктурированные материалы" ФФ

Контактное лицо

Лаборатория функциональной диагностики низкоразмерных структур для наноэлектроники

Контактное лицо

Результаты исследований

  1. Tackling residual tensile stress in AlN-on-Si nucleation layers via the controlled Si(111) surface nitridation

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  2. Resonant Raman scattering on graphene: SERS and gap-mode TERS

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Raman Scattering Spectroscopy and Photoluminescence of GaAs Nanowires

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

Просмотреть все (43) »

ID: 3531896