Аналитический и технологический исследовательский центр "Высокие технологии и наноструктурированные материалы" ФФ

Контактное лицо

Лаборатория функциональной диагностики низкоразмерных структур для наноэлектроники

Контактное лицо

Результаты исследований

  1. Chemical Composition Dependent Raman Scattering Spectroscopy of MBE Grown Manganese - Based Bismuth Telluride Topological Insulator Thin Films

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  2. Wavelength dependent gap-mode TERS by CdSe nanocrystals on a single Au nanodisk

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Resonance Raman Scattering of Topological Insulators Bi2Te3 and Bi2 − xSbxTe3 − ySey Thin Films

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

Просмотреть все (46) »

ID: 3531896