41 - 60 из 179Размер страницы: 20
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2023

  2. Influence of Current Density on the Structure of Amorphous Silicon Suboxide Thin Films Under Electron-Beam Annealing

    Baranov, E. A., Nepomnyashchikh, V. A., Konstantinov, V. O., Shchukin, V. G., Merkulova, I. E., Zamchiy, A. O., Lunev, N. A., Volodin, V. A. & Shapovalova, A. A., окт. 2023, в: Journal of Applied Mechanics and Technical Physics. 64, 5, стр. 778-783 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Synthesis and Study of Bismuth(III) Oxalates Precipitated from Mineral Acid Solutions

    Timakova, E. V., Timakova, T. E., Afonina, L. I., Bulina, N. V., Titkov, A. I., Gerasimov, K. B., Volodin, V. A. & Yukhin, Y. M., сент. 2023, в: Russian Journal of General Chemistry. 93, 9, стр. 2295-2304 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Single-shot selective femtosecond and picosecond infrared laser crystallization of an amorphous Ge/Si multilayer stack

    Volodin, V. A., Cheng, Y., Bulgakov, A. V., Levy, Y., Beránek, J., Nagisetty, S. S., Zukerstein, M., Popov, A. A. & Bulgakova, N. M., июн. 2023, в: Optics and Laser Technology. 161, стр. 10 109161.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Ultrafast Infrared Laser Crystallization of Amorphous Si/Ge Multilayer Structures

    Bulgakov, A. V., Beránek, J., Volodin, V. A., Cheng, Y., Levy, Y., Nagisetty, S. S., Zukerstein, M., Popov, A. A. & Bulgakova, N. M., 6 мая 2023, в: Materials. 16, 9, 3572.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Enhanced InAs phase formation in the In+- and As+-implanted SiO2 films covered with Si3N4 layers

    Tyschenko, I., Si, Z., Volodin, V., Cherkova, S. & Popov, V., 1 мая 2023, в: Materials Letters. 338, 134041.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Electron-Beam Radiation Effects in Multilayer Structures Grown with the Periodical Deposition of Si and CaF2 on Si(111)

    Dvurechenskii, A. V., Kacyuba, A. V., Kamaev, G. N., Volodin, V. A., Stepina, N. P., Zinovieva, A. F. & Zinovyev, V. A., мая 2023, в: Materials Today: Proceedings. 14, 1, 68.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  8. Основание для пересмотра интерпретации полос в спектрах комбинационного рассеяния сопряженных полимеров

    Просанов, И. Ю., Сидельников, А. А. & Володин, В. А., мар. 2023, в: Оптика и спектроскопия. 131, 2, стр. 260-263 4 стр., 24.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Состав и оптические свойства аморфного плазмохимического оксинитрида кремния переменного состава a SiOxNy:H

    Володин, В. А., Камаев, Г. Н., Гриценко, В. А., Черкова, С. Г. & Просвирин, И. П., мар. 2023, в: Журнал технической физики. 93, 4, стр. 575-582 8 стр., 20.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Visualization of Swift Ion Tracks in Suspended Local Diamondized Few-Layer Graphene

    Nebogatikova, N. A., Antonova, I. V., Gutakovskii, A. K., Smovzh, D. V., Volodin, V. A. & Sorokin, P. B., 7 февр. 2023, в: Materials. 16, 4, 1391.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. HIGH-TEMPERATURE ANNEALING OF SILICON SUBOXIDE THIN FILMS OBTAINED BY GAS-JET ELECTRON BEAM PLASMA CHEMICAL VAPOR DEPOSITION

    Baranov, E. A., Zamchiy, A. O., Lunev, N. A., Merkulova, I. E., Volodin, V. A., Sharafutdinov, M. R. & Shapovalova, A. A., 6 февр. 2023, в: Journal of Applied Mechanics and Technical Physics. 63, 5, стр. 757-764 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. Characterization of Structure, Morphology, Optical and Electrical Properties of AlN–Al–V Multilayer Thin Films Fabricated by Reactive DC Magnetron Sputtering

    Миронова, М. И., Капишников, А. В., Хамуд, Г., Володин, В. А., Азаров, И. А., Юшков, И. Д., Камаев, Г. Н., Супрун, Е., Chirikov, N., Davletkildeev, N. A., Baidakov, A. N., Kovivchak, V. S., Baranova, L. V., Струнин, В. И. & Гейдт, П. В., февр. 2023, в: Coatings. 13, 2, 223.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  13. Charge Transport Mechanism in the Forming-Free Memristor Based on PECVD Silicon Oxynitride

    Gismatulin, A. A., Kamaev, G. N., Volodin, V. A. & Gritsenko, V. A., февр. 2023, в: Electronics (Switzerland). 12, 3, 598.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  14. Formation of light-emitting defects in silicon by swift heavy ion irradiation and subsequent annealing

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., февр. 2023, в: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 535, стр. 132-136 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  15. Memristors Based on Many-Layer Non-Stoichiometric Germanosilicate Glass Films

    Yushkov, I. D., Yin, L., Kamaev, G. N., Prosvirin, I. P., Geydt, P. V., Vergnat, M. & Volodin, V. A., февр. 2023, в: Electronics (Switzerland). 12, 4, 873.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  16. Raman scattering studies of low energy Ar+ ion implanted monocrystalline silicon for synchrotron applications

    Kumar, N., Volodin, V. A., Goryainov, S. V., Chernyshev, A. K., Kozakov, A. T., Scrjabin, A. A., Chkhalo, N. I., Mikhailenko, M. S., Pestov, A. E. & Zorina, M. V., 1 янв. 2023, в: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 534, стр. 97-102 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  17. Electron-Beam Radiation Effects at the Molecular-Beam Epitaxial Growth of CaF2 Film on Silicon

    Dvurechenskii, A. V., Kacyuba, A. V., Kamaev, G. N. & Volodin, V. A., 2023, в: Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 87, 6, стр. 809-812 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  18. Memristors Based on GeSixOy Glass Films on p+-Si substrate

    Володин, В. А., Юшков, И. Д., Камаев, Г. Н. & Vergnat, M., 2023, Труды международ. конф. (2-6 октября 2023: Звенигород, РФ) : Сборник тезисов. ООО "МАКС Пресс", стр. 24

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  19. MEMRISTORS BASED ON GESIXOY GLASS FILMS ON P+-SI SUBSTRATE

    Володин, В. А., Камаев, Г. Н., Юшков, И. Д. & Vergnat, M., 2023, Сборник тезисов: International Conference “Micro- and nanoelectronics – 2023". стр. 24 1 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  20. Non-thermal regimes of laser annealing of semiconductor nanostructures : crystallization without melting

    Mirza, I., Bulgakov, A. V., Sopha, H., Starinskiy, S. V., Tur, H., Smr, M., Volodin, V. A., Mocek, T., Macak, J. M. & Bulgakova, N. M., 2023, в: Frontiers in Nanotechnology. 5, стр. 1-12 12 стр., 1271832.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  21. Phenomenological model for Raman spectra calculating based on “bond charge” taking into account deformation and electro-optical mechanisms, including Fröhlich scattering

    Sachkov, V. A. & Volodin, V. A., 2023, в: Journal of Raman Spectroscopy. 54, 12, стр. 1465-1472 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 5 6 7 8 9 Далее

ID: 3443008