1 - 10 out of 61Page size: 10
Sort by: Title

  1. Способ осуществления рентгенофазового анализа золо- и/или почвосодержащей пробы

    Пащенко, С. Э., Капишников, А. В. & Гейдт, П. В., 8 Nov 2022, IPC No. G01N 23/20, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 2782990, Priority date 11 Mar 2022, Priority No. 2022106268

    Research output: Patent › Patent for invention

  2. Способ определения коэффициента уточнения объема объектов на поверхности с использованием АСМ с учетом высоты объектов

    Лапега, А. В. & Гейдт, П. В., 22 Dec 2022, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 78, Priority date 22 Dec 2022

    Research output: Patent › Know-how registration

  3. Способ определения концентрации связей Ge-O в пленках оксида германия из анализа спектров ИК-пропускания

    Володин, В. А. & Гейдт, П. В., 22 Dec 2022, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 73, Priority date 22 Dec 2022

    Research output: Patent › Know-how registration

  4. Способ и устройство управления концентрацией азота в пленках AlN получаемых при магнетронном распылении

    Гейдт, П. В. & Чепкасов, С. Ю., 29 Dec 2021, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 52, Priority date 28 Dec 2021

    Research output: Patent › Know-how registration

  5. Способ измерения модуля упругости полистирола и других полимеров с помощью сканирующего зондового микроскопа

    Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 124, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: Patent › Know-how registration

  6. Способ измерения латерального размера литографического рисунка с помощью сканирующего зондового микроскопа.

    Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 125, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: Patent › Know-how registration

  7. Способ измерения коэффициента поглощения оксида германия средствами ИК-спектроскопии

    Володин, В. А. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 123, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: Patent › Know-how registration

  8. Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов

    Гейдт, П. В., 2023, сборник тезисов: Школы молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем».

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Research › peer-review

  9. Совместное использование атомно-силовой микроскопии и молекулярной динамики при исследовании биополимерных систем

    Smirnov, M. A., Tolmachev, D. A., Glova, A. D., Sokolova, M. P., Гейдт, П. В., Lukasheva, N. V. & Lyulin, S. V., 2021, In: Высокомолекулярные соединения. Серия С. 63, 2, p. 253-270 18 p., 12.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  10. Сглаживание тонких поликристаллических пленок AlN кластерными ионами аргона

    Николаев, И. В., Коробейщиков, Н. Г., Роенко, М. А., Гейдт, П. В. & Струнин, В. И., 12 Jan 2021, In: Письма в Журнал технической физики. 47, 6, p. 44-47 4 p.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Previous 1 2 3 4 5 6 7 Next

ID: 17839471