101 - 120 из 162Размер страницы: 20
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2020

  2. Effect of Interfaces and Thickness on the Crystallization Kinetics of Amorphous Germanium Films

    Krivyakin, G. K., Volodin, V. A., Kamaev, G. N. & Popov, A. A., 1 июл. 2020, в: Semiconductors. 54, 7, стр. 754-758 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Negative and Positive Photoconductivity and Memristor Effect in Alloyed GeO[SiO] Films Containing Ge Nanoclusters

    Volodin, V. A., Kamaev, G. N. & Vergnat, M., 1 июл. 2020, в: Physica Status Solidi - Rapid Research Letters. 14, 7, 6 стр., 2000165.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Infrared photoluminescence from GeO[SiO2] and GeO[SiO] solid alloy layers irradiated with swift heavy Xe ions

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., июл. 2020, в: Journal of Luminescence. 223, 4 стр., 117238.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Femtosecond Laser Annealing of Multilayer Thin-Film Structures Based on Amorphous Germanium and Silicon

    Kolchin, A. V., Shuleiko, D. V., Pavlikov, A. V., Zabotnov, S. V., Golovan, L. A., Presnov, D. E., Volodin, V. A., Krivyakin, G. K., Popov, A. A. & Kashkarov, P. K., 1 июн. 2020, в: Technical Physics Letters. 46, 6, стр. 560-563 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. High-Temperature PIN Diodes Based on Amorphous Hydrogenated Silicon-Carbon Alloys and Boron-Doped Diamond Thin Films

    Stuchlikova, T. H., Stuchlik, J., Remes, Z., Taylor, A., Mortet, V., Ashcheulov, P., Gregora, I., Krivyakin, G. & Volodin, V., 1 июн. 2020, в: Physica Status Solidi (B) Basic Research. 257, 6, 6 стр., 1900247.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Indium-Induced Crystallization of Thin Films of Amorphous Silicon Suboxide

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Merkulova, I. E., Lunev, N. A., Volodin, V. A. & Maksimovskii, E. A., 1 июн. 2020, в: Technical Physics Letters. 46, 6, стр. 583-586 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Radiation-Induced epitaxial CaSi2 film growth at the molecular-beam epitaxy of CaF2 on Si

    Kacyuba, A. V., Dvurechenskii, A. V., Kamaev, G. N., Volodin, V. A. & Krupin, A. Y., 1 июн. 2020, в: Materials Letters. 268, 4 стр., 127554.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. On Raman scattering cross section ratio of amorphous to nanocrystalline germanium

    Hao, Z., Kochubei, S. A., Popov, A. A. & Volodin, V. A., июн. 2020, в: Solid State Communications. 313, 4 стр., 113897.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Formation of SnO and SnO2 phases during the annealing of SnO(x) films obtained by molecular beam epitaxy

    Nikiforov, A., Timofeev, V., Mashanov, V., Azarov, I., Loshkarev, I., Volodin, V., Gulyaev, D., Chetyrin, I. & Korolkov, I., 15 мая 2020, в: Applied Surface Science. 512, 7 стр., 145735.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Chemical Vapor Deposition of Silicon Nanoparticles on the Surface of Multiwalled Carbon Nanotubes

    Zavorin, A. V., Kuznetsov, V. L., Moseenkov, S. I., Tsendsuren, T. O., Volodin, V. A., Galkin, P. S. & Ishchenko, A. V., 1 апр. 2020, в: Journal of Structural Chemistry. 61, 4, стр. 617-627 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. On the Formation of Amorphous Ge Nanoclusters and Ge Nanocrystals in GeSixOy Films on Quartz Substrates by Furnace and Pulsed Laser Annealing

    Zhang Fan, F., Kochubey, S. A., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Semiconductors. 54, 3, стр. 322-329 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  13. Quantum Size Effects in Germanium Nanocrystals and Amorphous Nanoclusters in GeSi xO y Films

    Gambaryan, M. P., Krivyakin, G. K., Cherkova, S. G., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Physics of the Solid State. 62, 3, стр. 492-498 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  14. Fabrication of polycrystalline silicon thin films from a-SiOx via the inverted aluminum-induced layer exchange process

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Maximovskiy, E. A., Volodin, V. A., Vdovin, V. I., Gutakovskii, A. K. & Korolkov, I. V., 15 февр. 2020, в: Materials Letters. 261, 4 стр., 127086.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  15. Electronic structure and nanoscale potential fluctuations in strongly nonstoichiometric PECVD SiOx

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Krivyakin, G. K., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., 1 февр. 2020, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 529, 4 стр., 119796.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  16. 2019

  17. Electroluminescence of thin film p-i-n diodes based on a-SiC:H with integrated Ge nanoparticles

    Remes, Z., Stuchlik, J., Stuchlikova, T., Kupcik, J., Mortet, V., Taylor, A., Ashcheulov, P. & Volodin, V. A., 1 дек. 2019, в: EPJ Applied Physics. 88, 3, 6 стр., 19025.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  18. Study of Structural Modification of Composites with Ge Nanoclusters by Optical and Electron Microscopy Methods

    Astankova, K. N., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A., Volodin, V. A. & Latyshev, A. V., 1 дек. 2019, в: Semiconductors. 53, 16, стр. 2064-2067 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  19. Nanosized Potential Fluctuations in SiOx Synthesized by Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Novikov, Y. N., Kamaev, G. N., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., дек. 2019, в: Physics of the Solid State. 61, 12, стр. 2560-2568 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  20. Luminescence Properties of FZ Silicon Irradiated with Swift Heavy Ions

    Cherkova, S. G., Skuratov, V. A. & Volodin, V. A., 6 нояб. 2019, в: Semiconductors. 53, 11, стр. 1427-1430 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  21. Atomic and Electronic Structures of a-SiN x:H

    Gritsenko, V. A., Kruchinin, V. N., Prosvirin, I. P., Novikov, Y. N., Chin, A. & Volodin, V. A., 1 нояб. 2019, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 129, 5, стр. 924-934 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  22. Localization of Optical Phonons in Diamond Nanocrystals

    Sachkov, V. A. & Volodin, V. A., 1 нояб. 2019, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 129, 5, стр. 816-824 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 12 3 4 5 6 7 8 9 Далее

ID: 3443008