1. Особенности обработки кластерными ионами аргона поликристаллических пленок AlN на подложках из ситалла и Si

    Николаев, И. В., Коробейщиков, Н. Г., Гейдт, П. В., Chirikov, N. & Струнин, В. И., 15 Jul 2022, In: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 7, p. 46-50 5 p., 7.

    Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

  2. Получение пленок AlN/Al на Si методом импульсного магнетронного распыления для активного слоя ОАВ-резонаторов

    Богословцева, А. Л., Капишников, А. В. & Гейдт, П. В., 2023, Сборник тезисов VII Международной научно-технической конференции «Радиотехника, электроника и связь» (РЭиС-2023). Омск, p. 247-248 2 p.

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearchpeer-review

  3. Сглаживание тонких поликристаллических пленок AlN кластерными ионами аргона

    Николаев, И. В., Коробейщиков, Н. Г., Роенко, М. А., Гейдт, П. В. & Струнин, В. И., 12 Jan 2021, In: Письма в Журнал технической физики. 47, 6, p. 44-47 4 p.

    Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

  4. Совместное использование атомно-силовой микроскопии и молекулярной динамики при исследовании биополимерных систем

    Smirnov, M. A., Tolmachev, D. A., Glova, A. D., Sokolova, M. P., Гейдт, П. В., Lukasheva, N. V. & Lyulin, S. V., 2021, In: Высокомолекулярные соединения. Серия С. 63, 2, p. 253-270 18 p., 12.

    Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

  5. Способ измерения коэффициента поглощения оксида германия средствами ИК-спектроскопии

    Володин, В. А. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 123, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: PatentKnow-how registration

  6. Способ измерения латерального размера литографического рисунка с помощью сканирующего зондового микроскопа.

    Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 125, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: PatentKnow-how registration

  7. Способ измерения модуля упругости полистирола и других полимеров с помощью сканирующего зондового микроскопа

    Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 124, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: PatentKnow-how registration

ID: 17839471