1. Состав и структура тонких пленок аморфного нестехиометрического оксида кремния

    Непомнящий, В. А., Замчий, А. О., Володин, В. А. & Баранов, Е. А., 2023, АППН - 2023: Тезисы докладов школы молодых учёных "Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем". Новосибирск: ООО "ДигитПРО", p. 46-47 2 p.

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Research › peer-review

  2. Способ восстановления пера лопатки газотурбинного двигателя

    Гулов, М. А., Герцель, И. С., Маликов, А. Г., Константинов, С. А. & Фомин, В. М., 15 Jan 2024, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 2811627, 14 Nov 2023, Priority date 14 Nov 2023, Priority No. 2023129494

    Research output: Patent › Patent for invention

  3. СПОСОБ ИЗВЛЕЧЕНИЯ РУТЕНИЯ ИЗ КОМПЛЕКСНЫХ СОЕДИНЕНИЙ РУТЕНИЯ

    Емельянов, В. А., Коренев, С. В., Венедиктов, А. Б., Беляев, А. В., Громилов, С. А. & Кабин, Е. В., 27 Feb 2015, IPC No. C22B11/00, C22B3/44, C01G55/00, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 2542897, Priority date 18 Jul 2013, Priority No. 2013133511

    Research output: Patent › Patent for invention

  4. Способ измерения коэффициента поглощения оксида германия средствами ИК-спектроскопии

    Володин, В. А. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 123, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: Patent › Know-how registration

  5. Способ измерения латерального размера литографического рисунка с помощью сканирующего зондового микроскопа.

    Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 125, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: Patent › Know-how registration

  6. Способ измерения модуля упругости полистирола и других полимеров с помощью сканирующего зондового микроскопа

    Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 124, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: Patent › Know-how registration

  7. Способ измерения параметров элементарной ячейки кристаллов на установках, использующих 2D-детекторы

    Громилов, С. А. & Серебренникова, П. С., 3 Mar 2026, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 2857482, 14 Oct 2025, Priority date 14 Oct 2025, Priority No. 2025128042

    Research output: Patent › Patent for invention

  8. Способ определения концентрации связей Ge-O в пленках оксида германия из анализа спектров ИК-пропускания

    Володин, В. А. & Гейдт, П. В., 22 Dec 2022, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 73, Priority date 22 Dec 2022

    Research output: Patent › Know-how registration

ID: 3087437