1 - 10 из 15Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2024

  2. Effect of growth temperature on photoluminescence properties of NH3-MBE grown GaN-on-Si layers

    Osinnykh, I. V., Malin, T. V., Milakhin, D. S. & Zhuravlev, K. S., мая 2024, в: St. Petersburg State Polytechnical University Journal: Physics and Mathematics. 17, 11, стр. 43-48 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  3. 2023

  4. Determination of donor and acceptor concentrations in GaN using yellow photoluminescence band

    Igor, O. V., Malin, T. V. & Zhuravlev, K. S., июн. 2023, в: St. Petersburg State Polytechnical University Journal: Physics and Mathematics. 16, 3, стр. 33-38 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. 2022

  6. Stimulated emission in heavily doped Al0.68Ga0.32N:Si structures with external cavity

    Bokhan, P. A., Fateev, N. V., Malin, T. V., Osinnykh, I. V., Zakrevsky, D. E. & Zhuravlev, K. S., дек. 2022, в: Journal of Luminescence. 252, 119392.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Transformation of N-Polar Inversion Domains from AlN Buffer Layers during the Growth of AlGaN Layers

    Osinnykh, I. V., Malin, T. V., Kozhukhov, A. S., Ber, B. Y., Kazancev, D. Y. & Zhuravlev, K. S., июн. 2022, в: Semiconductors. 56, 6, стр. 352-359 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. 2021

  9. Features of Optical Gain in Heavily Doped Al xGa1 –xN:Si-Structures

    Bokhan, P. A., Zhuravlev, K. S., Zakrevsky, D. E., Malin, T. V., Osinnykh, I. V. & Fateev, N. V., сент. 2021, в: Technical Physics Letters. 47, 9, стр. 692-695 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. 2020

  11. Optical gain and stimulated emission in optically pumped heavily doped Al0.74Ga0.26N:Si structures with external cavity

    Bokhan, P. A., Fateev, N. V., Malin, T. V., Osinnykh, I. V., Zakrevsky, D. E. & Zhuravlev, K. S., июл. 2020, в: Optical Materials. 105, 5 стр., 109879.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. 2019

  13. Optical Gain in Heavily Doped AlxGa1 – xN:Si Structures

    Bokhan, P. A., Zhuravlev, K. S., Zakrevsky, D. E., Malin, T. V., Osinnykh, I. V. & Fateev, N. V., 1 сент. 2019, в: Technical Physics Letters. 45, 9, стр. 951-954 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  14. Donor-acceptor pair emission via defects with strong electron-phonon coupling in heavily doped AlxGa1-xN:Si layers with Al content x > 0.5

    Osinnykh, I. V., Malin, T. V., Milakhin, D. S., Plyusnin, V. F. & Zhuravlev, K. S., 1 июн. 2019, в: Japanese Journal of Applied Physics. 58, SC, 7 стр., 27.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  15. 2018

  16. Luminescence properties of heavily doped AlxGa1-xN/AlN films grown on sapphire substrate

    Bokhan, P. A., Fateev, N. V., Malin, T. V., Osinnykh, I. V., Zakrevsky, D. E. & Zhuravlev, K. S., 1 нояб. 2018, в: Journal of Luminescence. 203, стр. 127-134 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  17. Determination of the energy structure of recombination centers in heavily doped AlxGa1-xN: Si epitaxial layers with x > 0.5

    Osinnykh, I. V., Malin, T. V. & Zhuravlev, K. S., 10 апр. 2018, в: Journal of Physics: Conference Series. 993, 1, 6 стр., 012006.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

Назад 1 2 Далее

ID: 3487138