111 - 120 из 235Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2019

  2. Atomic and electronic structure of ferroelectric La-doped HfO2 films

    Perevalov, T. V., Gutakovskii, A. K., Kruchinin, V. N., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., 1 мар. 2019, в: Materials Research Express. 6, 3, 7 стр., 036403.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric thin films

    Islamov, D. R., Gritsenko, V. A., Perevalov, T. V., Pustovarov, V. A., Orlov, O. M., Chernikova, A. G., Markeev, A. M., Slesazeck, S., Schroeder, U., Mikolajick, T. & Krasnikov, G. Y., 1 мар. 2019, в: Acta Materialia. 166, стр. 47-55 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Implementation of Terahertz High-Pass Filters Based on All-Metal Microstructures using Deep X-ray Lithography

    Gentselev, A. N., Kuznetsov, S. A., Dultsev, F. N., Goldenberg, B. G., Zelinsky, A. G., Kondratyev, V. I. & Tanygina, D. S., 1 мар. 2019, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 55, 2, стр. 115-125 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Scattering of Electrons between Edge and Two-Dimensional States of a Two-Dimensional Topological Insulator and the Conductivity of the Topological Insulator Strip in a Metallic State

    Mahmoodian, M. M. & Entin, M. V., 1 мар. 2019, в: JETP Letters. 109, 5, стр. 331-333 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Resonance reflection of light by ordered silicon nanopillar arrays with the vertical p-n junction

    Basalaeva, L. S., Nastaushev, Y. V., Kryzhanovskaya, N. V., Moiseev, E. I., Radnatarov, D. A., Khripunov, S. A., Utkin, D. E., Chistokhin, I. B., Latyshev, A. V. & Dultsev, F. N., 28 февр. 2019, в: Thin Solid Films. 672, стр. 109-113 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. The deformation-potential scattering and alloy disorder scattering in donor-acceptor pHEMT heterostructures

    Yu Protasov, D., Bakarov, A. K., Toropov, A. I. & Zhuravlev, K. S., 18 февр. 2019, в: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 475, 1, 012033.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  8. Energy relaxation of hot carriers near the charge neutrality point in HgTe-based 2D topological insulators

    Rahim, A., Gusev, G. M., Kvon, Z. D., Olshanetsky, E. B., Mikhailov, N. N. & Dvoretsky, S. A., 1 февр. 2019, в: Microelectronic Engineering. 206, стр. 55-59 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Magnetoabsorption in HgCdTe/CdHgTe Quantum Wells in Tilted Magnetic Fields

    Bovkun, L. S., Ikonnikov, A. V., Aleshkin, V. Y., Orlita, M., Potemski, M., Piot, B. A., Dvoretskii, S. A., Mikhailov, N. N. & Gavrilenko, V. I., 1 февр. 2019, в: JETP Letters. 109, 3, стр. 191-197 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. On-chip Piezoelectric Actuation of Nanomechanical Resonators Containing a Two-dimensional Electron Gas

    Shevyrin, A. A., Bakarov, A. K., Shklyaev, A. A., Arakcheev, A. S., Kurosu, M., Yamaguchi, H. & Pogosov, A. G., 1 февр. 2019, в: JETP Letters. 109, 4, стр. 261-265 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Polaron Shift of the Levels of a Quantum Wire in a Hybrid Structure with a Bose—Einstein Condensate

    Kalameitsev, A. V., Mahmoodian, M. M. & Chaplik, A. V., 1 февр. 2019, в: JETP Letters. 109, 3, стр. 198-202 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...8 9 10 11 12 13 14 15 ...24 Далее

ID: 3083697