профиль

Впервые обнаружено явление когерентного радиационного затухания в циклотронном резонансе поверхностных дираковских фермионов в трехмерных топологических изоляторах. Исследованы угловые зависимости интенсивности комбинационного рассеяния линейно и циркулярно поляризованного света на оптических фононах Si. Измерения проводились при Т=300К в геометрии обратного рассеяния от плоскостей (100), (111) и (110) Si. Спектры возбуждались линией Аr лазера с =488 нм. Показано, что для LO фононов величина углового момента равна нулю, а для TO фононов она составляет 2ħ и 0 в зависимости от геометрии рассеяния