Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric thin films › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1016/j.actamat.2018.12.008
Конечная издательская версия

Damir R. Islamov
Vladimir A. Gritsenko
Timofey V. Perevalov
Vladimir A. Pustovarov
Oleg M. Orlov
Anna G. Chernikova
Andrey M. Markeev
Stefan Slesazeck
Uwe Schroeder
Thomas Mikolajick
Gennadiy Ya Krasnikov

Язык оригинала	английский
Страницы (с-по)	47-55
Число страниц	9
Журнал	Acta Materialia
Том	166
DOI	https://doi.org/10.1016/j.actamat.2018.12.008
Состояние	Опубликовано - 1 мар. 2019

Предметные области OECD FOS+WOS

ID: 18069054