Resonance reflection of light by ordered silicon nanopillar arrays with the vertical p-n junction › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1016/j.tsf.2019.01.007
Конечная издательская версия

L. S. Basalaeva
Yu V. Nastaushev
N. V. Kryzhanovskaya
E. I. Moiseev
D. A. Radnatarov
S. A. Khripunov
D. E. Utkin
I. B. Chistokhin
A. V. Latyshev
F. N. Dultsev

Язык оригинала	английский
Страницы (с-по)	109-113
Число страниц	5
Журнал	Thin Solid Films
Том	672
DOI	https://doi.org/10.1016/j.tsf.2019.01.007
Состояние	Опубликовано - 28 февр. 2019

Предметные области OECD FOS+WOS

2.05 ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ
1.03 ФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ И АСТРОНОМИЯ

ID: 18295071