101 - 110 из 230Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2019

  2. Erratum to: Bound State of an Electron in a MOS Structure Due to the Spin–Orbit Interaction (Journal of Experimental and Theoretical Physics, (2018), 127, 6, (1130-1135), 10.1134/S1063776118120075)

    Mahmoodian, M. M. & Chaplik, A. V., 1 мая 2019, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 128, 5, стр. 816-816 1 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › комментарий, выступление › Рецензирование

  3. Features of Photoluminescence of Double Acceptors in HgTe/CdHgTe Heterostructures with Quantum Wells in a Terahertz Range

    Kozlov, D. V., Rumyantsev, V. V., Kadykov, A. M., Fadeev, M. A., Kulikov, N. S., Utochkin, V. V., Mikhailov, N. N., Dvoretskii, S. A., Gavrilenko, V. I., Hubers, H. W., Teppe, F. & Morozov, S. V., 1 мая 2019, в: JETP Letters. 109, 10, стр. 657-662 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Monte Carlo simulation of roughening at step-terraced surfaces

    Kazantsev, D. M., Shwartz, N. L. & Alperovich, V. L., 17 апр. 2019, в: Journal of Physics: Conference Series. 1199, 1, 012010.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  5. Landau level spectroscopy of valence bands in HgTe quantum wells: Effects of symmetry lowering

    Bovkun, L. S., Ikonnikov, A. V., Aleshkin, V. Y., Spirin, K. E., Gavrilenko, V. I., Mikhailov, N. N., Dvoretskii, S. A., Teppe, F., Piot, B. A., Potemski, M. & Orlita, M., 10 апр. 2019, в: Journal of Physics Condensed Matter. 31, 14, стр. 145501 13 стр., 145501.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Superradiant and transport lifetimes of the cyclotron resonance in the topological insulator HgTe

    Gospodarič, J., Dziom, V., Shuvaev, A., Dobretsova, A. A., Mikhailov, N. N., Kvon, Z. D. & Pimenov, A., 20 мар. 2019, в: Physical Review B. 99, 11, 5 стр., 115130.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Atomic and electronic structure of ferroelectric La-doped HfO2 films

    Perevalov, T. V., Gutakovskii, A. K., Kruchinin, V. N., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., 1 мар. 2019, в: Materials Research Express. 6, 3, 7 стр., 036403.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric thin films

    Islamov, D. R., Gritsenko, V. A., Perevalov, T. V., Pustovarov, V. A., Orlov, O. M., Chernikova, A. G., Markeev, A. M., Slesazeck, S., Schroeder, U., Mikolajick, T. & Krasnikov, G. Y., 1 мар. 2019, в: Acta Materialia. 166, стр. 47-55 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Implementation of Terahertz High-Pass Filters Based on All-Metal Microstructures using Deep X-ray Lithography

    Gentselev, A. N., Kuznetsov, S. A., Dultsev, F. N., Goldenberg, B. G., Zelinsky, A. G., Kondratyev, V. I. & Tanygina, D. S., 1 мар. 2019, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 55, 2, стр. 115-125 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Scattering of Electrons between Edge and Two-Dimensional States of a Two-Dimensional Topological Insulator and the Conductivity of the Topological Insulator Strip in a Metallic State

    Mahmoodian, M. M. & Entin, M. V., 1 мар. 2019, в: JETP Letters. 109, 5, стр. 331-333 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Resonance reflection of light by ordered silicon nanopillar arrays with the vertical p-n junction

    Basalaeva, L. S., Nastaushev, Y. V., Kryzhanovskaya, N. V., Moiseev, E. I., Radnatarov, D. A., Khripunov, S. A., Utkin, D. E., Chistokhin, I. B., Latyshev, A. V. & Dultsev, F. N., 28 февр. 2019, в: Thin Solid Films. 672, стр. 109-113 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...7 8 9 10 11 12 13 14 ...23 Далее

ID: 3083697