1. 2020
  2. On the Formation of Amorphous Ge Nanoclusters and Ge Nanocrystals in GeSixOy Films on Quartz Substrates by Furnace and Pulsed Laser Annealing

    Zhang Fan, F., Kochubey, S. A., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Semiconductors. 54, 3, стр. 322-329 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Quantum Size Effects in Germanium Nanocrystals and Amorphous Nanoclusters in GeSi xO y Films

    Gambaryan, M. P., Krivyakin, G. K., Cherkova, S. G., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Physics of the Solid State. 62, 3, стр. 492-498 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Fabrication of polycrystalline silicon thin films from a-SiOx via the inverted aluminum-induced layer exchange process

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Maximovskiy, E. A., Volodin, V. A., Vdovin, V. I., Gutakovskii, A. K. & Korolkov, I. V., 15 февр. 2020, в: Materials Letters. 261, 4 стр., 127086.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Electronic structure and nanoscale potential fluctuations in strongly nonstoichiometric PECVD SiOx

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Krivyakin, G. K., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., 1 февр. 2020, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 529, 4 стр., 119796.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. 2019
  7. Electroluminescence of thin film p-i-n diodes based on a-SiC:H with integrated Ge nanoparticles

    Remes, Z., Stuchlik, J., Stuchlikova, T., Kupcik, J., Mortet, V., Taylor, A., Ashcheulov, P. & Volodin, V. A., 1 дек. 2019, в: EPJ Applied Physics. 88, 3, 6 стр., 19025.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Study of Structural Modification of Composites with Ge Nanoclusters by Optical and Electron Microscopy Methods

    Astankova, K. N., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A., Volodin, V. A. & Latyshev, A. V., 1 дек. 2019, в: Semiconductors. 53, 16, стр. 2064-2067 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Nanosized Potential Fluctuations in SiOx Synthesized by Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Novikov, Y. N., Kamaev, G. N., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., дек. 2019, в: Physics of the Solid State. 61, 12, стр. 2560-2568 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Luminescence Properties of FZ Silicon Irradiated with Swift Heavy Ions

    Cherkova, S. G., Skuratov, V. A. & Volodin, V. A., 6 нояб. 2019, в: Semiconductors. 53, 11, стр. 1427-1430 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Atomic and Electronic Structures of a-SiN x:H

    Gritsenko, V. A., Kruchinin, V. N., Prosvirin, I. P., Novikov, Y. N., Chin, A. & Volodin, V. A., 1 нояб. 2019, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 129, 5, стр. 924-934 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. Localization of Optical Phonons in Diamond Nanocrystals

    Sachkov, V. A. & Volodin, V. A., 1 нояб. 2019, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 129, 5, стр. 816-824 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

ID: 3443008