1. 2020
  2. Formation of SnO and SnO2 phases during the annealing of SnO(x) films obtained by molecular beam epitaxy

    Nikiforov, A., Timofeev, V., Mashanov, V., Azarov, I., Loshkarev, I., Volodin, V., Gulyaev, D., Chetyrin, I. & Korolkov, I., 15 мая 2020, в: Applied Surface Science. 512, 7 стр., 145735.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Chemical Vapor Deposition of Silicon Nanoparticles on the Surface of Multiwalled Carbon Nanotubes

    Zavorin, A. V., Kuznetsov, V. L., Moseenkov, S. I., Tsendsuren, T. O., Volodin, V. A., Galkin, P. S. & Ishchenko, A. V., 1 апр. 2020, в: Journal of Structural Chemistry. 61, 4, стр. 617-627 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  4. On the Formation of Amorphous Ge Nanoclusters and Ge Nanocrystals in GeSixOy Films on Quartz Substrates by Furnace and Pulsed Laser Annealing

    Zhang Fan, F., Kochubey, S. A., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Semiconductors. 54, 3, стр. 322-329 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  5. Quantum Size Effects in Germanium Nanocrystals and Amorphous Nanoclusters in GeSi xO y Films

    Gambaryan, M. P., Krivyakin, G. K., Cherkova, S. G., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Physics of the Solid State. 62, 3, стр. 492-498 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  6. Fabrication of polycrystalline silicon thin films from a-SiOx via the inverted aluminum-induced layer exchange process

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Maximovskiy, E. A., Volodin, V. A., Vdovin, V. I., Gutakovskii, A. K. & Korolkov, I. V., 15 февр. 2020, в: Materials Letters. 261, 4 стр., 127086.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  7. Electronic structure and nanoscale potential fluctuations in strongly nonstoichiometric PECVD SiOx

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Krivyakin, G. K., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., 1 февр. 2020, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 529, 4 стр., 119796.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  8. 2019
  9. Electroluminescence of thin film p-i-n diodes based on a-SiC:H with integrated Ge nanoparticles

    Remes, Z., Stuchlik, J., Stuchlikova, T., Kupcik, J., Mortet, V., Taylor, A., Ashcheulov, P. & Volodin, V. A., 1 дек. 2019, в: EPJ Applied Physics. 88, 3, 6 стр., 19025.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  10. Study of Structural Modification of Composites with Ge Nanoclusters by Optical and Electron Microscopy Methods

    Astankova, K. N., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A., Volodin, V. A. & Latyshev, A. V., 1 дек. 2019, в: Semiconductors. 53, 16, стр. 2064-2067 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  11. Nanosized Potential Fluctuations in SiOx Synthesized by Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Novikov, Y. N., Kamaev, G. N., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., дек. 2019, в: Physics of the Solid State. 61, 12, стр. 2560-2568 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  12. Luminescence Properties of FZ Silicon Irradiated with Swift Heavy Ions

    Cherkova, S. G., Skuratov, V. A. & Volodin, V. A., 6 нояб. 2019, в: Semiconductors. 53, 11, стр. 1427-1430 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

ID: 3443008