Theoretical and experimental determination of work function of HfIrxBy compounds

Lozanov, V. V., Nikiforov, Y. A., Golosov, M. A., Utkin, A. V., Golyashov, V. A., Kistanov, A. A., Tereshchenko, O. E. & Baklanova, N. I., 30 янв. 2026, в: Applied Surface Science. 716, 12 стр., 164629.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Effect of indium embedding on molecular-beam epitaxial growth of Pb1−xSnxTe

Ishchenko, D. V., Molodtsova, E. L., Suprun, S. P., Kyrova, E. D., Fedosenko, E. V. & Tereshchenko, O. E., 8 сент. 2025, в: Applied Physics Letters. 127, 10, 6 стр., 103107.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Chemically prepared tellurium layer on PbSnTe films: passivation and oxidation properties

Akhundov, I. O., Ishchenko, D. V., Fedosenko, E. V., Golyashov, V. A., Shvets, V. A., Suprun, S. P., Kyrova, E. D., Mikaeva, A. S. & Tereshchenko, O. E., 15 авг. 2025, в: Surfaces and Interfaces. 71, 8 стр., 106887.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Direct Spin-Imaging Detector Based on Freestanding Magnetic Nanomembranes

Tereshchenko, O. E., Bakin, V. V., Stepanov, S. A., Golyashov, V. A., Mikaeva, A. S., Kustov, D. A., Rusetsky, V. S., Rozhkov, S. A., Scheibler, H. E. & Demin, A. Y., 18 апр. 2025, в: Physical Review Letters. 134, 15, 157002.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Surface Fermi level tuning in thin epitaxial BiySb2−yTe3−xSex/Si(111) films

Stepina, N. P., Golyashov, V. A., Bazhenov, A. O., Ishchenko, D. V., Kumar, N., Shumilin, A. V. & Tereshchenko, O. E., 2025, в: Applied Physics Letters. 126, 22, 223102.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Resonance Raman Scattering of Topological Insulators Bi2Te3 and Bi2 − xSbxTe3 − ySey Thin Films

Kumar, N., Surovtsev, N. V., Ishchenko, D. V., Yunin, P. A., Milekhin, I. A., Tereshchenko, O. E. & Milekhin, A. G., 26 нояб. 2024, в: Journal of Raman Spectroscopy. 10 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Polarization-resolved resonant Raman excitation of surface and bulk electronic bands and phonons in MBE-grown topological insulator thin films

Kumar, N., Ishchenko, D. V., Milekhin, I. A., Yunin, P. A., Kyrova, E. D., Korsakov, A. V. & Tereshchenko, O. E., 5 нояб. 2024, в: Physical Chemistry Chemical Physics. 26, 46, стр. 29036-29047 12 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Na2KSb/CsxSb interface engineering for high-efficiency photocathodes

Rozhkov, S. A., Bakin, V. V., Rusetsky, V. S., Kustov, D. A., Golyashov, V. A., Demin, A. Y., Scheibler, H. E., Alperovich, V. L. & Tereshchenko, O. E., 2 авг. 2024, в: Physical Review Applied. 22, 2, 024008.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Interfacing two-dimensional and magnetic topological insulators: Bi bilayer on MnBi2Te4-family materials

Klimovskikh, I. I., Eremeev, S. V., Estyunin, D. A., Filnov, S. O., Shimada, K., Golyashov, V. A., Solovova, N. Y., Tereshchenko, O. E., Kokh, K. A., Frolov, A. S., Sergeev, A. I., Stolyarov, V. S., Trontl, V. M., Petaccia, L., Di Santo, G., Tallarida, M., Dai, J., Blanco-Canosa, S., Valla, T., Shikin, A. M., еще 1Chulkov, E. V., авг. 2024, в: Materials Today Advances. 23, 9 стр., 100511.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Nonlinear Hall Coefficient in Films of a Three-Dimensional Topological Insulator

Stepina, N. P., Bazhenov, A. O., Shumilin, A. V., Zhdanov, E. Y., Ishchenko, D. V., Kirienko, V. V., Aksenov, M. S. & Tereshchenko, O. E., авг. 2024, в: JETP Letters. 120, 3, стр. 199-204 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование