Resonance Raman Scattering of Topological Insulators Bi2Te3 and Bi2 − xSbxTe3 − ySey Thin Films

Язык оригинала	английский
Журнал	Journal of Raman Spectroscopy
DOI	https://doi.org/10.1002/jrs.6751
Состояние	Опубликовано - 30 нояб. 2024

ID: 61245012