Результаты исследований

1. Al₂O₃/InGaAs interface passivation by fluorine-containing anodic layers

   Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

2. Searching Optimal Growth Parameters for HfO Applied by Plasma-Enhanced Atomic Layer Deposition Method

   Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

3. Features of MIS Structures Based on Insulating PbSnTe:In Films with the Composition in the Vicinity of the Band Inversion Related to Their Ferroelectric Properties

   Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Просмотреть все (7) »