Результаты исследований

1. Surface morphology analysis of CdTe buffer layers using ellipsometry and interference profilometry to create a technique for monitoring the growth of buffer layers

   Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

2. Temperature Dependence of the Spectra of Optical Constants of CdTe in the Region of the Absorption Edge

   Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

3. In situ Ellipsometric Control of Growth Processes of ZnTe and CdTe Buffer Layers in Technology of Molecular Beam Epitaxy of Mercury Cadmium Telluride

   Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Просмотреть все (20) »