1 - 10 из 99Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2024

  2. Optical realization of magneto-intersubband oscillations

    Savchenko, M. L., Bykov, A. A., Shuvaev, A., Bakarov, A. K., Pimenov, A. & Raichev, O. E., 15 апр. 2024, в: Applied Physics Letters. 124, 16, 6 стр., 162104.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. 2023

  4. Annealing effect on the barrier characteristics and interface properties of Au/Pt/Ti/n-InAlAs Schottky contacts

    Aksenov, M. S., Genze, I. Y., Chistokhin, I. B., Zakirov, E. R., Dmitriev, D. V., Zhuravlev, K. S., Gutakovskii, A. K., Golyashov, V. A. & Tereshchenko, O. E., июл. 2023, в: Surfaces and Interfaces. 39, 102920.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. 2022

  6. Al2O3/InGaAs interface passivation by fluorine-containing anodic layers

    Aksenov, M. S., Valisheva, N. A., Gorshkov, D. V., Sidorov, G. Y., Prosvirin, I. P. & Gutakovskii, A. K., 28 февр. 2022, в: Journal of Applied Physics. 131, 8, 085301.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. 2021

  8. Transformation of the InP(001) surface upon annealing in an arsenic flux

    Dmitriev, D. V., Kolosovsky, D. A., Gavrilova, T. A., Gutakovskii, A. K., Toropov, A. I. & Zhuravlev, K. S., авг. 2021, в: Surface Science. 710, 121861.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Layer exchange during aluminum-induced crystallization of silicon suboxide thin films

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Merkulova, I. E., Korolkov, I. V., Vdovin, V. I., Gutakovskii, A. K. & Volodin, V. A., 15 июн. 2021, в: Materials Letters. 293, 129723.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Photon-Stimulated Transport in a Quantum Point Contact (Brief Review)

    Tkachenko, V. A., Kvon, Z. D., Tkachenko, O. A., Yaroshevich, A. S., Rodyakina, E. E., Baksheev, D. G. & Latyshev, A. V., мар. 2021, в: JETP Letters. 113, 5, стр. 331-344 14 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › обзорная статья › Рецензирование

  11. High harmonics of the cyclotron resonance in microwave transmission of a high-mobility two-dimensional electron system

    Savchenko, M. L., Shuvaev, A., Dmitriev, I. A., Bykov, A. A., Bakarov, A. K., Kvon, Z. D. & Pimenov, A., 5 февр. 2021, в: Physical Review Research. 3, 1, L012013.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. Formation of InAs/GaP Quantum-Well Heterostructures on Silicon Substrates by Molecular-Beam Epitaxy

    Abramkin, D. S., Petrushkov, M. O., Emelyanov, E. A., Nenashev, A. V., Yesin, M. Y., Vasev, A. V., Putyato, M. A., Bogomolov, D. B., Gutakovskiy, A. K. & Preobrazhenskiy, V. V., февр. 2021, в: Semiconductors. 55, 2, стр. 194-201 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  13. 2020

  14. Direct probe of the interior of an electric pion in a Cooper pair superinsulator

    Diamantini, M. C., Postolova, S. V., Mironov, A. Y., Gammaitoni, L., Strunk, C., Trugenberger, C. A. & Vinokur, V. M., 1 дек. 2020, в: Communications Physics. 3, 1, 7 стр., 142.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  15. Nanowired structure, optical properties and conduction band offset of RF magnetron-deposited n-Si/In2O3:Er films

    Feklistov, K. V., Lemzyakov, A. G., Prosvirin, I. P., Gismatulin, A. A., Shklyaev, A. A., Zhivodkov, Y. A., Krivyakin, G., Komonov, A. I., Kozhukhov, A. S., Spesivsev, E. V., Gulyaev, D. V., Abramkin, D. S., Pugachev, A. M., Esaev, D. G. & Sidorov, G. Y., дек. 2020, в: Materials Research Express. 7, 12, 11 стр., 125903.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 5 6 7 8 ...10 Далее

ID: 3081475