1 - 10 из 257Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2025

  2. Polarization-dependent TERS imaging of a single AlN nanorod

    Milekhin, I. A., Milekhin, A. G., Tsarev, A. V., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., 30 дек. 2025, в: Applied Surface Science. 714, 7 стр., 164403.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Polymorphic States in the Electron-Beam Exposure-Induced CaSi2 Film Growth at the CaF2 Epitaxy on Si

    Kacyuba, A. V., Dvurechenskii, A. V., Kamaev, G. N. & Volodin, V. A., 10 сент. 2025, в: Journal of Surface Investigation. 19, 2, стр. 504-509 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Photosensitive MIS structures based on GeSixOy films

    Hamoud, G. A., Kamaev, G. N., Vergnat, M. & Volodin, V. A., мая 2025, в: Optical Materials. 162, 116838.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Wavelength dependent gap-mode TERS by CdSe nanocrystals on a single Au nanodisk

    Milekhin, I. A., Rahaman, M., Tsarev, A. V., Anikin, K. V., Rodyakina, E. E., Duda, T. A., Saidzhonov, B. M., Vasiliev, R. B., Milekhin, A. G., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., 30 мар. 2025, в: Applied Surface Science. 686, 162144.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Array of dielectric Mie particles with optical surface resonances as a promising coating for thin-film photoelectronic device applications

    Shklyaev, A. A., Utkin, D. E., Tsarev, A. V. & Latyshev, A. V., мар. 2025, в: Vacuum. 233, 113976.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Chemical Composition Dependent Raman Scattering Spectroscopy of MBE Grown Manganese - Based Bismuth Telluride Topological Insulator Thin Films

    Kumar, N., Ishchenko, DV., Milekhin, IA., Kyrova, ED., Fedosenko, EV., Milekhin, AG. & Tereshchenko, OE., 13 февр. 2025, в: Journal of Raman Spectroscopy. 56, 5

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Полупроводники и нанотехнологии

    Асеев, А. Л., 2025, Москва: Юрайт. 152 стр. (Высшее образование)

    Результаты исследований: Книги, отчёты, сборники › книга, в т.ч. монография, учебник › учебная › Рецензирование

  9. 2024

  10. Charge transport mechanism in [GeOx](z)[SiO2](1-z) based MIS structures

    Yushkov, I. D., Gismatulin, A. A., Prosvirin, I. P., Kamaev, G. N., Marin, D. V., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 9 дек. 2024, в: Applied Physics Letters. 125, 24, 242901.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Resonance Raman Scattering of Topological Insulators Bi2Te3 and Bi2 − xSbxTe3 − ySey Thin Films

    Kumar, N., Surovtsev, N. V., Ishchenko, D. V., Yunin, P. A., Milekhin, I. A., Tereshchenko, O. E. & Milekhin, A. G., 26 нояб. 2024, в: Journal of Raman Spectroscopy. 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. Polarization-resolved resonant Raman excitation of surface and bulk electronic bands and phonons in MBE-grown topological insulator thin films

    Kumar, N., Ishchenko, D. V., Milekhin, I. A., Yunin, P. A., Kyrova, E. D., Korsakov, A. V. & Tereshchenko, O. E., 5 нояб. 2024, в: Physical Chemistry Chemical Physics. 26, 46, стр. 29036-29047 12 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 5 6 7 8 ...26 Далее

ID: 10000229