1061 - 1070 out of 28,847Page size: 10
  1. Способ измерения параметров элементарной ячейки кристаллов на установках, использующих 2D-детекторы

    Громилов, С. А. & Серебренникова, П. С., 3 Mar 2026, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 2857482, 14 Oct 2025, Priority date 14 Oct 2025, Priority No. 2025128042

    Research output: PatentPatent for invention

  2. Способ измерения модуля упругости полистирола и других полимеров с помощью сканирующего зондового микроскопа

    Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 124, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: PatentKnow-how registration

  3. Способ измерения латерального размера литографического рисунка с помощью сканирующего зондового микроскопа.

    Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 125, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: PatentKnow-how registration

  4. Способ измерения коэффициента поглощения оксида германия средствами ИК-спектроскопии

    Володин, В. А. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 123, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: PatentKnow-how registration

  5. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ВОДОРОДА В ТВЕРДОТЕЛЬНОМ МАТЕРИАЛЕ

    Володин, В. А., Камаев, Г. Н., Антоненко, А. Х. & Кошелев, Д. И., 20 Oct 2014, IPC No. G01N21/65, H01L21/66, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 2531081, Priority date 18 Jul 2013, Priority No. 2013133496

    Research output: PatentPatent for invention

  6. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИНЫ РАСПРОСТРАНЕНИЯ ИНФРАКРАСНЫХ ПОВЕРХНОСТНЫХ ПЛАЗМОНОВ ПО РЕАЛЬНОЙ ПОВЕРХНОСТИ

    Князев, Б. А., Никитин, А. К. & Жижин, Г. Н., 10 Apr 2014, IPC No. G01N21/00, G01J3/45, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 2512659, Priority date 3 Jul 2012, Priority No. 2012128079

    Research output: PatentPatent for invention

  7. Способ изготовления устройства поверхностной аксиальной нанофотоники

    Крисанов, Д. В., Ватник, И. Д., Хорев, С. В. & Чуркин, Д. В., 18 Jun 2020, IPC No. G02B6/02, B82Y40/00, B82Y20/00, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 2723979, Priority date 30 Dec 2019, Priority No. 2019145597

    Research output: PatentPatent for invention