1 - 10 out of 72Page size: 10
  1. 2025

  2. Comparative nanopatterning of single-component semiconductors using oblique argon cluster ion bombardment

    Коробейщиков, Н. Г., Николаев, И. В., Стишенко, П. В. & Яковлева, М. В., Dec 2025, In: Materials Science in Semiconductor Processing. 200, 11 p., 110016.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  3. Газокластерные ионные пучки для поверхностной инженерии: прогресс, вызовы и решения: Труды XXVII Международной конференции.

    Коробейщиков, Н. Г., Николаев, И. В. & Яковлева, М. В., 15 Aug 2025, p. 170-173. 4 p.

    Research output: Contribution to conference › Paper › peer-review

  4. Cluster Ion Treatment of the Surface of Single-Crystal Silicon and Germanium at an Angle of 60°

    Николаев, И. В., Коробейщиков, Н. Г. & Лапега, А. В., Jun 2025, In: Journal of Surface Investigation. 19, 1, p. 163-166 4 p.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  5. Наноструктурирование поверхности полупроводников ионно-кластерным пучком аргона

    Коробейщиков, Н. Г., Николаев, И. В., Яковлева, М. В. & Лапега, А. В., 10 Mar 2025, Нанофизика и наноэлектроника: XXIX симпозиум. Тезисы докладов. Нижний Новгород, p. 317 1 p.

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Research › peer-review

  6. Ионно-кластерная обработка поверхности монокристаллических кремния и германия под углом 60˚

    Николаев, И. В., Коробейщиков, Н. Г. & Лапега, А. В., 2025, In: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  7. 2024

  8. Способ измерения латерального размера литографического рисунка с помощью сканирующего зондового микроскопа.

    Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 125, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: Patent › Know-how registration

  9. Способ измерения модуля упругости полистирола и других полимеров с помощью сканирующего зондового микроскопа

    Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 28 Dec 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Patent No. 124, 28 Dec 2024, Priority date 28 Dec 2024

    Research output: Patent › Know-how registration

  10. Microstructural and chemical effects of the argon cluster bombardment on a single crystal KGd(WO4)2 surface

    Коробейщиков, Н. Г., Николаев, И. В., Атучин, В. В., Герасимов, Е. Ю., Толстогузов, А. Б., Abudouwufu, T. & Fu, D., Nov 2024, In: Applied Physics A: Materials Science and Processing. 130, 11, 9 p., 842.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  11. Surface nanostructuring of single-crystal silicon and germanium by cluster ion treatment

    Николаев, И. В., Коробейщиков, Н. Г. & Лапега, А. В., 16 Sept 2024, 9TH INTERNATIONAL CONGRESS ON ENERGY FLUXES AND RADIATION EFFECTS (EFRE-2024): Abstracts. Новосибирск: Академиздат, p. 291 1 p.

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Research › peer-review

  12. Динамика столкновений кластеров аргона с поверхностью полупроводниковых материалов

    Коробейщиков, Н. Г., Стишенко, П. В. & Николаев, И. В., 8 Sept 2024, p. 147. 1 p.

    Research output: Contribution to conference › Abstract › peer-review

Previous 1 2 3 4 5 6 7 8 Next

ID: 12592622