1 - 3 из 3Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2024

  2. Surface morphology analysis of CdTe buffer layers using ellipsometry and interference profilometry to create a technique for monitoring the growth of buffer layers

    Shvets, V. A., Marin, D. V., Kuznetsova, L. S., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., 20 июл. 2024, в: Journal of Optical Technology (A Translation of Opticheskii Zhurnal). 91, 2, стр. 91-95 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Temperature Dependence of the Spectra of Optical Constants of CdTe in the Region of the Absorption Edge

    Shvets, V. A., Marin, D. V., Yakushev, M. V. & Rykhiitskii, S. V., апр. 2024, в: Optics and Spectroscopy. 132, 4, стр. 403-408 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. In situ Ellipsometric Control of Growth Processes of ZnTe and CdTe Buffer Layers in Technology of Molecular Beam Epitaxy of Mercury Cadmium Telluride

    Shvets, V. A., Marin, D. V., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., янв. 2024, в: Semiconductors. 58, 1, стр. 67-72 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

ID: 42209264