Charge transport mechanism in [GeOx](z)[SiO2](1-z) based MIS structures › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1063/5.0240239
Конечная издательская версия

I. D. Yushkov
A. A. Gismatulin
I. P. Prosvirin
G. N. Kamaev
D. V. Marin
M. Vergnat
V. A. Volodin

Язык оригинала	английский
Номер статьи	242901
Журнал	Applied Physics Letters
Том	125
Номер выпуска	24
DOI	https://doi.org/10.1063/5.0240239
Состояние	Опубликовано - 9 дек. 2024

Предметные области OECD FOS+WOS

1.03.UB ФИЗИКА, ПРИКЛАДНАЯ

ID: 61318499