1. 2020
  2. Indium-Induced Crystallization of Thin Films of Amorphous Silicon Suboxide

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Merkulova, I. E., Lunev, N. A., Volodin, V. A. & Maksimovskii, E. A., 1 июн. 2020, в: Technical Physics Letters. 46, 6, стр. 583-586 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Radiation-Induced epitaxial CaSi2 film growth at the molecular-beam epitaxy of CaF2 on Si

    Kacyuba, A. V., Dvurechenskii, A. V., Kamaev, G. N., Volodin, V. A. & Krupin, A. Y., 1 июн. 2020, в: Materials Letters. 268, 4 стр., 127554.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  4. On Raman scattering cross section ratio of amorphous to nanocrystalline germanium

    Hao, Z., Kochubei, S. A., Popov, A. A. & Volodin, V. A., июн. 2020, в: Solid State Communications. 313, 4 стр., 113897.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  5. Formation of SnO and SnO2 phases during the annealing of SnO(x) films obtained by molecular beam epitaxy

    Nikiforov, A., Timofeev, V., Mashanov, V., Azarov, I., Loshkarev, I., Volodin, V., Gulyaev, D., Chetyrin, I. & Korolkov, I., 15 мая 2020, в: Applied Surface Science. 512, 7 стр., 145735.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  6. Chemical Vapor Deposition of Silicon Nanoparticles on the Surface of Multiwalled Carbon Nanotubes

    Zavorin, A. V., Kuznetsov, V. L., Moseenkov, S. I., Tsendsuren, T. O., Volodin, V. A., Galkin, P. S. & Ishchenko, A. V., 1 апр. 2020, в: Journal of Structural Chemistry. 61, 4, стр. 617-627 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  7. On the Formation of Amorphous Ge Nanoclusters and Ge Nanocrystals in GeSixOy Films on Quartz Substrates by Furnace and Pulsed Laser Annealing

    Zhang Fan, F., Kochubey, S. A., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Semiconductors. 54, 3, стр. 322-329 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  8. Quantum Size Effects in Germanium Nanocrystals and Amorphous Nanoclusters in GeSi xO y Films

    Gambaryan, M. P., Krivyakin, G. K., Cherkova, S. G., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Physics of the Solid State. 62, 3, стр. 492-498 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  9. Fabrication of polycrystalline silicon thin films from a-SiOx via the inverted aluminum-induced layer exchange process

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Maximovskiy, E. A., Volodin, V. A., Vdovin, V. I., Gutakovskii, A. K. & Korolkov, I. V., 15 февр. 2020, в: Materials Letters. 261, 4 стр., 127086.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  10. Electronic structure and nanoscale potential fluctuations in strongly nonstoichiometric PECVD SiOx

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Krivyakin, G. K., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., 1 февр. 2020, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 529, 4 стр., 119796.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  11. 2019
  12. Electroluminescence of thin film p-i-n diodes based on a-SiC:H with integrated Ge nanoparticles

    Remes, Z., Stuchlik, J., Stuchlikova, T., Kupcik, J., Mortet, V., Taylor, A., Ashcheulov, P. & Volodin, V. A., 1 дек. 2019, в: EPJ Applied Physics. 88, 3, 6 стр., 19025.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

ID: 3443008