11 - 20 из 144Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2023

  2. Ultrafast Infrared Laser Crystallization of Amorphous Si/Ge Multilayer Structures

    Bulgakov, A. V., Beránek, J., Volodin, V. A., Cheng, Y., Levy, Y., Nagisetty, S. S., Zukerstein, M., Popov, A. A. & Bulgakova, N. M., 6 мая 2023, в: Materials. 16, 9, 3572.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Enhanced InAs phase formation in the In+- and As+-implanted SiO2 films covered with Si3N4 layers

    Tyschenko, I., Si, Z., Volodin, V., Cherkova, S. & Popov, V., 1 мая 2023, в: Materials Letters. 338, 134041.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Electron-Beam Radiation Effects in Multilayer Structures Grown with the Periodical Deposition of Si and CaF2 on Si(111)

    Dvurechenskii, A. V., Kacyuba, A. V., Kamaev, G. N., Volodin, V. A., Stepina, N. P., Zinovieva, A. F. & Zinovyev, V. A., мая 2023, в: Materials Today: Proceedings. 14, 1, 68.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  5. Основание для пересмотра интерпретации полос в спектрах комбинационного рассеяния сопряженных полимеров

    Просанов, И. Ю., Сидельников, А. А. & Володин, В. А., мар. 2023, в: Оптика и спектроскопия. 131, 2, стр. 260-263 4 стр., 24.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Состав и оптические свойства аморфного плазмохимического оксинитрида кремния переменного состава a SiOxNy:H

    Володин, В. А., Камаев, Г. Н., Гриценко, В. А., Черкова, С. Г. & Просвирин, И. П., мар. 2023, в: Журнал технической физики. 93, 4, стр. 575-582 8 стр., 20.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Visualization of Swift Ion Tracks in Suspended Local Diamondized Few-Layer Graphene

    Nebogatikova, N. A., Antonova, I. V., Gutakovskii, A. K., Smovzh, D. V., Volodin, V. A. & Sorokin, P. B., 7 февр. 2023, в: Materials. 16, 4, 1391.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Characterization of Structure, Morphology, Optical and Electrical Properties of AlN–Al–V Multilayer Thin Films Fabricated by Reactive DC Magnetron Sputtering

    Миронова, М. И., Капишников, А. В., Хамуд, Г., Володин, В. А., Азаров, И. А., Юшков, И. Д., Камаев, Г. Н., Супрун, Е., Chirikov, N., Davletkildeev, N. A., Baidakov, A. N., Kovivchak, V. S., Baranova, L. V., Струнин, В. И. & Гейдт, П. В., февр. 2023, в: Coatings. 13, 2, 223.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Charge Transport Mechanism in the Forming-Free Memristor Based on PECVD Silicon Oxynitride

    Gismatulin, A. A., Kamaev, G. N., Volodin, V. A. & Gritsenko, V. A., февр. 2023, в: Electronics (Switzerland). 12, 3, 598.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Formation of light-emitting defects in silicon by swift heavy ion irradiation and subsequent annealing

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., февр. 2023, в: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 535, стр. 132-136 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Memristors Based on Many-Layer Non-Stoichiometric Germanosilicate Glass Films

    Yushkov, I. D., Yin, L., Kamaev, G. N., Prosvirin, I. P., Geydt, P. V., Vergnat, M. & Volodin, V. A., февр. 2023, в: Electronics (Switzerland). 12, 4, 873.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 5 6 7 8 ...15 Далее

ID: 3443008