61 - 70 из 151Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2022

  2. Diffusion of Germanium from a Buried SiO2 Layer and Formation of a SiGe Phase

    Tyschenko, I. E., Khmelnitsky, R. A., Saraykin, V. V., Volodin, V. A. & Popov, V. P., мар. 2022, в: Semiconductors. 56, 3, стр. 215-222 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Formation of germanium nanocrystals and amorphous nanoclusters in GeSiOx films using electron beam annealing

    Zhang, F., Volodin, V. A., Baranov, E. A., Konstantinov, V. O., Shchukin, V. G., Zamchiy, A. O. & Vergnat, M., мар. 2022, в: Vacuum. 197, 110796.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Graphene/Hexagonal Boron Nitride Composite Nanoparticles for 2D Printing Technologies

    Antonova, I. V., Shavelkina, M. B., Poteryaev, D. A., Nebogatikova, N. A., Ivanov, A. I., Soots, R. A., Gutakovskii, A. K., Kurkina, I. I., Volodin, V. A., Katarzhis, V. A., Ivanov, P. P. & Bocharov, A. N., мар. 2022, в: Advanced Engineering Materials. 24, 3, 2100917.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Nanostructuring of CVD graphene by high-energy heavy ions

    Antonova, I. V., Nebogatikova, N. A., Erohin, S. V., Prenas, V. A., Smovzh, D. V., Suprun, E. A., Volodin, V. A., Olejniczak, A. & Sorokin, P. B., мар. 2022, в: Diamond and Related Materials. 123, 108880.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. The Influence of Argon Cluster Ion Bombardment on the Characteristics of AlN Films on Glass-Ceramics and Si Substrates

    Nikolaev, I. V., Geydt, P. V., Korobeishchikov, N. G., Kapishnikov, A. V., Volodin, V. A., Azarov, I. A., Strunin, V. I. & Gerasimov, E. Y., 1 февр. 2022, в: Nanomaterials. 12, 4, 670.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Erratum to: Gold-Induced Crystallization of Thin Films of Amorphous Silicon Suboxide (Technical Physics Letters, (2021), 47, 10, (726-729), 10.1134/S1063785021070257)

    Lunev, N. A., Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Merkulova, I. E., Konstantinov, V. O., Korolkov, I. V., Maximovskiy, E. A. & Volodin, V. A., февр. 2022, в: Technical Physics Letters. 48, 2, стр. 95 1 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › комментарий, выступление › Рецензирование

  8. Light sensitive memristors based on GeSixOy films with Ge nanoclusters

    Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Yushkov, I. D., Krivyakin, G. K., Cherkova, S. G. & Vergnat, M., 31 янв. 2022, International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2021. Lukichev, V. F. & Rudenko, K. V. (ред.). SPIE, 121570A. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; том 12157).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  9. Study of structural and optical properties of a dual-band material based on tin oxides and GeSiSn compounds

    Timofeev, V. A., Mashanov, V. I., Nikiforov, A. I., Loshkarev, I. D., Gulyaev, D. V., Volodin, V. A., Kozhukhov, A. S., Komkov, O. S., Firsov, D. D. & Korolkov, I. V., 30 янв. 2022, в: Applied Surface Science. 573, 151615.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Determination of the infrared absorption cross-section of the stretching vibrations of Ge–O bonds in GeOx films

    Zhang, F., Volodin, V. A., Astankova, K. N., Kamaev, G. N., Azarov, I. A., Prosvirin, I. P. & Vergnat, M., янв. 2022, в: Results in Chemistry. 4, 100461.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. IR Photoluminescence of Silicon Irradiated with High-Energy Xe Ions after Annealing

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 2022, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 58, 6, стр. 633-642 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...3 4 5 6 7 8 9 10 ...16 Далее

ID: 3443008