61 - 70 из 144Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2022

  2. Study of structural and optical properties of a dual-band material based on tin oxides and GeSiSn compounds

    Timofeev, V. A., Mashanov, V. I., Nikiforov, A. I., Loshkarev, I. D., Gulyaev, D. V., Volodin, V. A., Kozhukhov, A. S., Komkov, O. S., Firsov, D. D. & Korolkov, I. V., 30 янв. 2022, в: Applied Surface Science. 573, 151615.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Determination of the infrared absorption cross-section of the stretching vibrations of Ge–O bonds in GeOx films

    Zhang, F., Volodin, V. A., Astankova, K. N., Kamaev, G. N., Azarov, I. A., Prosvirin, I. P. & Vergnat, M., янв. 2022, в: Results in Chemistry. 4, 100461.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. IR Photoluminescence of Silicon Irradiated with High-Energy Xe Ions after Annealing

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 2022, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 58, 6, стр. 633-642 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Nonstoichiometric Germanosilicate Films on Silicon for Microelectronics: Memristors and Other Applications

    Volodin, V. A., Zhang, F., Yushkov, I. D., Yin, L. & Kamaev, G. N., 2022, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 58, 6, стр. 584-593 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Picosecond infrared laser crystallization of Ge layers in Ge/Si multi-nanolayers for optoelectronic applications

    Volodin, V. A., Krivyakin, G. K., Bulgakov, A. V., Levy, Y., Beránek, J., Nagisetty, S., Bryknar, Z., Bulgakova, N. M., Geydt, P. V. & Popov, A. A., 2022, International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2021. Lukichev, V. F. & Rudenko, K. V. (ред.). SPIE, 1215702. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; том 12157).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  7. 2021

  8. Программа для моделирования спектров инфракрасного поглощения и отражения твердотельными плёнками в рамках модели Друде-Лоренца без учёта интерференции

    Володин, В. А. & Шабалов, Н. А., 8 дек. 2021, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2021680259, Дата приоритета 29 нояб. 2021, № приоритета 2021669374

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации программы для ЭВМ

  9. Optical properties of GeO[SiO] and GeO[SiO2] solid alloy layers grown at low temperature

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Zhang, F., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., дек. 2021, в: Optical Materials. 122, 111736.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Synthesis of Si nanoparticle chains and nanowhiskers by the monosilane decomposition in an adiabatic process during cyclic compression

    Ezdin, B. S., Kalyada, V. V., Yatsenko, D. A., Ischenko, A. V., Volodin, V. A. & Shklyaev, A. A., дек. 2021, в: Powder Technology. 394, стр. 996-1003 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Laser annealing of epitaxial CaF2 films on Si

    Dvurechenskii, A. V., Smagina, Z. V., Volodin, V. A., Kacyuba, A. V., Zinovyev, V. A., Ivlev, G. D. & Prakopyeu, S. L., 1 окт. 2021, в: Thin Solid Films. 735, 138898.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. Atomic Structure and Optical Properties of CaSi2 Layers Grown on CaF2/Si Substrates

    Zinovyev, V. A., Kacyuba, A. V., Volodin, V. A., Zinovieva, A. F., Cherkova, S. G., Smagina, Z. V., Dvurechenskii, A. V., Krupin, A. Y., Borodavchenko, O. M., Zhivulko, V. D. & Mudryi, A. V., окт. 2021, в: Semiconductors. 55, 10, стр. 808-811 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...3 4 5 6 7 8 9 10 ...15 Далее

ID: 3443008