121 - 130 из 162Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Formation of germanium nanocrystals and amorphous nanoclusters in GeSiOx films using electron beam annealing

    Zhang, F., Volodin, V. A., Baranov, E. A., Konstantinov, V. O., Shchukin, V. G., Zamchiy, A. O. & Vergnat, M., мар. 2022, в: Vacuum. 197, 110796.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Formation of Germanium Nanocrystals and Amorphous Nanoclusters in GeO[SiO] and GeO[SiO2] Films Using Electron Beam Annealing

    Konstantinov, V. O., Baranov, E. A., Fan, Z., Shchukin, V. G., Zamchiy, A. O. & Volodin, V. A., 18 сент. 2024, в: Technical Physics. 69, 4, стр. 898-905 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Formation and study of p–i–n structures based on two-phase hydrogenated silicon with a germanium layer in the i-type region

    Krivyakin, G. K., Volodin, V. A., Shklyaev, A. A., Mortet, V., More-Chevalier, J., Ashcheulov, P., Remes, Z., Stuchliková, T. H. & Stuchlik, J., 1 окт. 2017, в: Semiconductors. 51, 10, стр. 1370-1376 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Forbidden Resonant Raman Scattering in GaAs/AlAs Superlattices: Experiment and Calculations

    Volodin, V. A., Sachkov, V. A. & Sinyukov, M. P., 1 июн. 2018, в: Semiconductors. 52, 6, стр. 717-722 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Femtosecond Laser Annealing of Multilayer Thin-Film Structures Based on Amorphous Germanium and Silicon

    Kolchin, A. V., Shuleiko, D. V., Pavlikov, A. V., Zabotnov, S. V., Golovan, L. A., Presnov, D. E., Volodin, V. A., Krivyakin, G. K., Popov, A. A. & Kashkarov, P. K., 1 июн. 2020, в: Technical Physics Letters. 46, 6, стр. 560-563 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Fabrication of polycrystalline silicon thin films from a-SiOx via the inverted aluminum-induced layer exchange process

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Maximovskiy, E. A., Volodin, V. A., Vdovin, V. I., Gutakovskii, A. K. & Korolkov, I. V., 15 февр. 2020, в: Materials Letters. 261, 4 стр., 127086.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Erratum to: Gold-Induced Crystallization of Thin Films of Amorphous Silicon Suboxide (Technical Physics Letters, (2021), 47, 10, (726-729), 10.1134/S1063785021070257)

    Lunev, N. A., Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Merkulova, I. E., Konstantinov, V. O., Korolkov, I. V., Maximovskiy, E. A. & Volodin, V. A., февр. 2022, в: Technical Physics Letters. 48, 2, стр. 95 1 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › комментарий, выступление › Рецензирование

  8. Enhanced InAs phase formation in the In+- and As+-implanted SiO2 films covered with Si3N4 layers

    Tyschenko, I., Si, Z., Volodin, V., Cherkova, S. & Popov, V., 1 мая 2023, в: Materials Letters. 338, 134041.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Engineering of graphene flakes in the process of synthesis in DC plasma jets

    Antonova, I. V., Shavelkina, M. B., Ivanov, A. I., Nebogatikova, N. A., Soots, R. A. & Volodin, V. A., 10 нояб. 2022, в: Physical Chemistry Chemical Physics. 24, 46, стр. 28232-28241 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Ellipsometry, Raman spectroscopy and SOI- nanowire biosensor in diagnosis of colorectalcancer

    Kruchinina, M. V., Prudnikova, Y. I., Kurilovich, S. A., Gromov, A. A., Kruchinin, V. N., Atuchin, V. V., Naumova, O. V., Spesivtsev, E. V., Volodin, V. A., Peltek, S. E., Shuvalov, G. V. & Generalov, V. M., 2017, в: Siberian Journal of Oncology. 16, 4, стр. 32-41 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...9 10 11 12 13 14 15 16 17 Далее

ID: 3443008