31 - 40 из 78Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2022

  2. Аналитический и технологический исследовательский центр "Высокие технологии и наноструктурированные материалы" ФФ НГУ: история, становление и достигнутые результаты

    Гейдт, П. В., Аржанников, А. В., Асеев, А. Л., Шкляев, А. А., Володин, В. А., Азаров, И. А., Зайковский, В. И., Utkin, D., Ларичев, Ю. В., Чепкасов, С. Ю. & Кузнецов, С. А., 17 дек. 2022, в: Сибирский физический журнал. 17, 3, стр. 66-88 23 стр., 9.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Interdisk spacing effect on resonant properties of Ge disk lattices on Si substrates

    Shklyaev, A. A., Utkin, D. E., Tsarev, A. V., Kuznetsov, S. A., Anikin, K. V. & Latyshev, A. V., дек. 2022, в: Scientific Reports. 12, 1, 8123.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Optical properties of extreme tellurium nanowires formed in subnanometer-diameter channels

    Poborchii, V. V., Fokin, A. V. & Shklyaev, A. A., 19 нояб. 2022, в: Nanoscale Advances. 5, 1, стр. 220-227 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Femtosecond Laser Direct Writing of Antireflection Microstructures on the Front and Back Sides of a GaSe Crystal

    Yelisseyev, A., Fedyaj, V., Simonov, V., Isaenko, L., Lobanov, S., Shklyaev, A., Simanchuk, A., Babin, S. & Dostovalov, A., окт. 2022, в: Photonics. 9, 10, 774.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Scintillator surface modification by glancing angle deposition of thin ZrO2films

    Azarov, I. A., Kuper, K. E., Lemzyakov, A. G., Porosev, V. V. & Shklyaev, A. A., 1 мая 2022, в: Journal of Instrumentation. 17, 5, T05013.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Effect of antireflection microstructures on the optical properties of GaSe

    Yelisseyev, A. P., Isaenko, L. I., Lobanov, S. I., Dostovalov, A. V., Bushunov, A. A., Tarabrin, M. K., Teslenko, A. A., Lazarev, V. A., Shklyaev, A. A., Babin, S. A., Goloshumova, A. A. & Gromilov, S. A., 1 апр. 2022, в: Optical Materials Express. 12, 4, стр. 1593-1608 16 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Structural Changes in Nanometer-Thick Silicon-on-Insulator Films During High-Temperature Annealing

    Tyschenko, I. E., Spesivtsev, E. V., Shklyaev, A. A. & Popov, V. P., мар. 2022, в: Semiconductors. 56, 3, стр. 223-229 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Tuning the configuration of quantum dot molecules grown on stacked multilayers of heteroepitaxial islands

    Rudin, S. A., Zinovyev, V. A., Smagina, Z. V., Novikov, P. L., Shklyaev, A. A. & Dvurechenskii, A. V., 21 янв. 2022, в: Journal of Applied Physics. 131, 3, 035302.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. 2021

  11. Метод получения антиотражающих покрытий из массива частиц SiGe посредством их самоорганизации на подложках кремния

    Шкляев, А. А. & Utkin, D., 9 дек. 2021, Редакционно-издательский центр НГУ, Патент/Св-во № 50, Дата приоритета 8 дек. 2021

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации ноу-хау

  12. Способ создания конусообразных Si частиц на поверхности кремния без использования процессов травления

    Utkin, D. & Шкляев, А. А., 9 дек. 2021, Редакционно-издательский центр НГУ, Патент/Св-во № 51, Дата приоритета 8 дек. 2021

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации ноу-хау

Назад 1 2 3 4 5 6 7 8 Далее

ID: 3455017