Raman scattering spectroscopy of MBE grown thin film topological insulator Bi2−xSbxTe3−ySey

Kumar, N., Surovtsev, N. V., Yunin, P. A., Ishchenko, D. V., Milekhin, I. A., Lebedev, S. P., Lebedev, A. A. & Tereshchenko, O. E., 12 апр. 2024, в: Physical Chemistry Chemical Physics. 26, 17, стр. 13497-13505 9 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Interfacing two-dimensional and magnetic topological insulators: Bi bilayer on MnBi2Te4-family materials

Klimovskikh, I. I., Eremeev, S. V., Estyunin, D. A., Filnov, S. O., Shimada, K., Golyashov, V. A., Solovova, N. Y., Tereshchenko, O. E., Kokh, K. A., Frolov, A. S., Sergeev, A. I., Stolyarov, V. S., Trontl, V. M., Petaccia, L., Di Santo, G., Tallarida, M., Dai, J., Blanco-Canosa, S., Valla, T., Shikin, A. M., еще 1Chulkov, E. V., авг. 2024, в: Materials Today Advances. 23, 9 стр., 100511.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Nonlinear Hall Coefficient in Films of a Three-Dimensional Topological Insulator

Stepina, N. P., Bazhenov, A. O., Shumilin, A. V., Zhdanov, E. Y., Ishchenko, D. V., Kirienko, V. V., Aksenov, M. S. & Tereshchenko, O. E., авг. 2024, в: JETP Letters. 120, 3, стр. 199-204 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Na2KSb/CsxSb interface engineering for high-efficiency photocathodes

Rozhkov, S. A., Bakin, V. V., Rusetsky, V. S., Kustov, D. A., Golyashov, V. A., Demin, A. Y., Scheibler, H. E., Alperovich, V. L. & Tereshchenko, O. E., 2 авг. 2024, в: Physical Review Applied. 22, 2, 024008.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Polarization-resolved resonant Raman excitation of surface and bulk electronic bands and phonons in MBE-grown topological insulator thin films

Kumar, N., Ishchenko, D. V., Milekhin, I. A., Yunin, P. A., Kyrova, E. D., Korsakov, A. V. & Tereshchenko, O. E., 5 нояб. 2024, в: Physical Chemistry Chemical Physics. 26, 46, стр. 29036-29047 12 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Resonance Raman Scattering of Topological Insulators Bi2Te3 and Bi2 − xSbxTe3 − ySey Thin Films

Kumar, N., Surovtsev, N. V., Ishchenko, D. V., Yunin, P. A., Milekhin, I. A., Tereshchenko, O. E. & Milekhin, A. G., 26 нояб. 2024, в: Journal of Raman Spectroscopy. 10 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование