Raman scattering spectroscopy of MBE grown thin film topological insulator Bi2−xSbxTe3−ySey › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1039/d4cp01169d
Конечная издательская версия

Niranjan Kumar
N. V. Surovtsev
P. A. Yunin
D. V. Ishchenko
I. A. Milekhin
S. P. Lebedev
A. A. Lebedev
O. E. Tereshchenko

Язык оригинала	английский
Страницы (с-по)	13497-13505
Число страниц	9
Журнал	Physical Chemistry Chemical Physics
Том	26
Номер выпуска	17
DOI	https://doi.org/10.1039/d4cp01169d
Состояние	Опубликовано - 12 апр. 2024

Предметные области OECD FOS+WOS

1.03.UH ФИЗИКА, АТОМНАЯ, МОЛЕКУЛЯРНАЯ И ХИМИЧЕСКАЯ
1.04.EI ХИМИЯ, ФИЗИЧЕСКАЯ

ID: 61056059