1. 2022
  2. Способ определения коэффициента уточнения объема объектов на поверхности с использованием АСМ с учетом высоты объектов

    Лапега, А. В. & Гейдт, П. В., 22 дек. 2022, Редакционно-издательский центр НГУ, Патент/Св-во № 78, Дата приоритета 22 дек. 2022

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации ноу-хау

  3. Способ создания антиотражающих покрытий из частиц германия в виде упорядоченных субмикронных дисков на поверхности КНИ подложек

    Уткин, Д. Е. & Шкляев, А. А., 22 дек. 2022, Редакционно-издательский центр НГУ, Патент/Св-во № 79, Дата приоритета 22 дек. 2022

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации ноу-хау

  4. Программа расчёта поляризационных свойств слоистых отражающих структур и моделирования спектров эллипсометрии

    Азаров, И. А., 20 дек. 2022, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2022685005, Дата приоритета 13 дек. 2022, № приоритета 2022684414

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации программы для ЭВМ

  5. Aluminothermic Synthesis of Dispersed Electrides Based on Mayenite: XRD and EPR Study

    Володин, А. М., Кенжин, Р. М., Капишников, А. В., Комаровских, А. & Ведягин, А. А., 16 дек. 2022, в: Materials. 15, 24, 8988.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Electronic structure of silicon oxynitride films grown by plasma-enhanced chemical vapor deposition for memristor application

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Gismatulin, A. A., Cherkova, S. G., Prosvirin, I. P., Astankova, K. N. & Gritsenko, V. A., 15 дек. 2022, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 598, 8 стр., 121925.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. In situ spectroscopic ellipsometry for temperature control in molecular beam epitaxy of HgCdTe

    Shvets, V. A., Marin, D. V., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., 1 дек. 2022, в: Journal of Crystal Growth. 599, 126898.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Interdisk spacing effect on resonant properties of Ge disk lattices on Si substrates

    Shklyaev, A. A., Utkin, D. E., Tsarev, A. V., Kuznetsov, S. A., Anikin, K. V. & Latyshev, A. V., дек. 2022, в: Scientific Reports. 12, 1, 8123.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Temperature Dependence of Terahertz Properties of Stoichiometric Lithium Tantalate

    Antsygin, V. D., Mamrashev, A. A., Maximov, L. V., Mikerin, S. L., Minakov, F. A. & Nikolaev, N. A., дек. 2022, в: Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves. 43, 11-12, стр. 895-904 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Optical properties of extreme tellurium nanowires formed in subnanometer-diameter channels

    Poborchii, V. V., Fokin, A. V. & Shklyaev, A. A., 19 нояб. 2022, в: Nanoscale Advances. 5, 1, стр. 220-227 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

ID: 75607337