In situ spectroscopic ellipsometry for temperature control in molecular beam epitaxy of HgCdTe › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2022.126898
Конечная издательская версия

V. A. Shvets
D. V. Marin
I. A. Azarov
M. V. Yakushev
S. V. Rykhlitskii

Язык оригинала	английский
Номер статьи	126898
Журнал	Journal of Crystal Growth
Том	599
DOI	https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2022.126898
Состояние	Опубликовано - 1 дек. 2022

Предметные области OECD FOS+WOS

2.05 ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ
1.03 ФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ И АСТРОНОМИЯ
1.04 ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ

ID: 38159175