Determining the Compositional Profile of HgTe/Cd xHg1 – xTe Quantum Wells by Single-Wavelength Ellipsometry › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1134/S0030400X19080253
Конечная издательская версия

V. A. Shvets
N. N. Mikhailov
D. G. Ikusov
I. N. Uzhakov
S. A. Dvoretskii

Язык оригинала	английский
Страницы (с-по)	340-346
Число страниц	7
Журнал	Optics and Spectroscopy
Том	127
Номер выпуска	2
DOI	https://doi.org/10.1134/S0030400X19080253
Состояние	Опубликовано - 1 авг. 2019

Предметные области OECD FOS+WOS

ID: 21856045