1 - 10 из 17Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. 1.534 µm Er electroluminescence in the RF magnetron deposited In2O3 : Er films on a Si substrate

    Feklistov, K. V., Lemzyakov, A. G., Abramkin, D. S., Svit, K. A., Pugachev, A. M., Volodin, V. A., Marin, D. V., Spesivsev, E. V., Azarov, I. A., Safronov, L. N., Kochubey, S. A., Ershov, K. S., Kapishnikov, A. V., Shmakov, A. N., Shklyaev, A. A. & Zhivodkov, Y. A., 30 июн. 2026, в: Modern Electronic Materials. 12, 2, стр. 95-102 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Determining the structure of energy in heterostructures with diffuse interfaces

    Abramkin, D. S., Bakarov, A. K., Kolotovkina, D. A., Gutakovskii, A. K. & Shamirzaev, T. S., 1 сент. 2017, в: Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 81, 9, стр. 1052-1057 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Dislocation Filter Based on LT-GaAs Layers for Monolithic GaAs/Si Integration

    Petrushkov, M. O., Abramkin, D. S., Emelyanov, E. A., Putyato, M. A., Komkov, O. S., Firsov, D. D., Vasev, A. V., Yesin, M. Y., Bakarov, A. K., Loshkarev, I. D., Gutakovskii, A. K., Atuchin, V. V. & Preobrazhenskii, V. V., 14 дек. 2022, в: Nanomaterials. 12, 24, 4449.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Effect of the Crystallographic Orientation of GaSb Films on Their Structural Properties during MBE Heteroepitaxy on Vicinal Si(001) Substrates

    Petrushkov, M. O., Abramkin, D. S., Emelyanov, E. A., Putyato, M. A., Vasev, A. V., Loshkarev, D. I., Yesin, M. Y., Komkov, O. S., Firsov, D. D. & Preobrazhenskii, V. V., дек. 2020, в: Semiconductors. 54, 12, стр. 1548-1554 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Formation of InAs/GaP Quantum-Well Heterostructures on Silicon Substrates by Molecular-Beam Epitaxy

    Abramkin, D. S., Petrushkov, M. O., Emelyanov, E. A., Nenashev, A. V., Yesin, M. Y., Vasev, A. V., Putyato, M. A., Bogomolov, D. B., Gutakovskiy, A. K. & Preobrazhenskiy, V. V., февр. 2021, в: Semiconductors. 55, 2, стр. 194-201 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Formation of low-dimensional structures in the InSb/AlAs heterosystem

    Abramkin, D. S., Bakarov, A. K., Putyato, M. A., Emelyanov, E. A., Kolotovkina, D. A., Gutakovskii, A. K. & Shamirzaev, T. S., 1 сент. 2017, в: Semiconductors. 51, 9, стр. 1233-1239 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. GaAs/GaP Quantum-Well Heterostructures Grown on Si Substrates

    Abramkin, D. S., Petrushkov, M. O., Putyato, M. A., Semyagin, B. R., Emelyanov, E. A., Preobrazhenskii, V. V., Gutakovskii, A. K. & Shamirzaev, T. S., 1 сент. 2019, в: Semiconductors. 53, 9, стр. 1143-1147 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Heterostructures with diffused interfaces: Luminescent technique for ascertainment of band alignment type

    Abramkin, D. S., Gutakovskii, A. K. & Shamirzaev, T. S., 21 мар. 2018, в: Journal of Applied Physics. 123, 11, 11 стр., 115701.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Heterostructures with InAs/AlAs Quantum Wells and Quantum Dots Grown on GaAs/Si Hybrid Substrates

    Abramkin, D. S., Petrushkov, M. O., Putyato, M. A., Semyagin, B. R. & Shamirzaev, T. S., 1 нояб. 2018, в: Semiconductors. 52, 11, стр. 1484-1490 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Influence of a Low-Temperature GaAs Dislocation Filter on the Perfection of GaAs/Si Layers

    Abramkin, D. S., Petrushkov, M. O., Emel’yanov, E. A., Putyato, M. A., Semyagin, B. R., Vasev, A. V., Esin, M. Y., Loshkarev, I. D., Gutakovskii, A. K., Preobrazhenskii, V. V. & Shamirzaev, T. S., 1 мар. 2018, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 54, 2, стр. 181-186 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 Далее

ID: 3443736