141 - 160 из 179Размер страницы: 20
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2019

  2. Memristor effect in GeO[SiO2] and GeO[SiO] solid alloys films

    Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Gritsenko, V. A., Gismatulin, A. A., Chin, A. & Vergnat, M., 10 июн. 2019, в: Applied Physics Letters. 114, 23, 5 стр., 233104.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Silicon Nanocrystals and Amorphous Nanoclusters in SiOx and SiNx: Atomic, Electronic Structure, and Memristor Effects

    Володин, В. А., Гриценко, В. А., Гисматулин, А. А. & Chin, A., 8 июн. 2019, Nanocrystalline Materials. IntechOpen, стр. 1-23 23 стр. (Nanocrystalline Materials).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › глава/раздел › научная › Рецензирование

  4. All Nonmetal Resistive Random Access Memory

    Yen, T. J., Gismatulin, A., Volodin, V., Gritsenko, V. & Chin, A., 16 апр. 2019, в: Scientific Reports. 9, 1, стр. 6144 5 стр., 6144.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Crystallization of Amorphous Germanium Films and Multilayer a-Ge/a-Si Structures upon Exposure to Nanosecond Laser Radiation

    Volodin, V. A., Krivyakin, G. K., Ivlev, G. D., Prokopyev, S. L., Gusakova, S. V. & Popov, A. A., 1 мар. 2019, в: Semiconductors. 53, 3, стр. 400-405 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Light-emitting defects formed in GeO/SiO2 heterostructures with assistance of swift heavy ions

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 1 мар. 2019, в: Journal of Luminescence. 207, стр. 209-212 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Vibrational and Light-Emitting Properties of Si/Si1−xSn x Heterostructures

    Volodin, V. A., Timofeev, V. A., Nikiforov, A. I., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 1 мар. 2019, в: JETP Letters. 109, 6, стр. 368-371 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Crystallization of submicron amorphous hydrogenated silicon films with different hydrogen concentration by nanosecond ruby laser irradiation

    Krivyakin, G. K., Kamaev, G. N., Ivlev, G. D., Prakopyeu, S. L. & Volodin, V. A., 1 февр. 2019, в: Journal of Laser Applications. 31, 1, 5 стр., 012006.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Effect of mono-, di-, and triethylene glycol on the activity of phosphate-doped NiMo/al 2 O 3 hydrotreating catalysts

    Nuzhdin, A. L., Bukhtiyarova, G. A., Porsin, A. A., Prosvirin, I. P., Deliy, I. V., Volodin, V. A., Gerasimov, E. Y., Vlasova, E. N. & Bukhtiyarov, V. I., 1 янв. 2019, в: Catalysts. 9, 1, 11 стр., 96.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Luminescent properties of GeO x thin films and GeO/SiO 2 heterostructures modified with swift heavy ions

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 1 янв. 2019, International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2018. Lukichev, V. F. & Rudenko, K. V. (ред.). The International Society for Optical Engineering, Том 11022. стр. 28 8 стр. 1102214. (Proceedings of SPIE; том 11022).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  11. Nanocrystalline diamond films heavily doped by boron: Structure, optical and electrical properties

    Volodin, V. A., Cherkova, S. G., Kumar, V., Sachkov, V. A., Mortet, V., Taylor, A., Remes, Z., Stuchliková, T. H. & Stuchlik, J., 1 янв. 2019, International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2018. Lukichev, V. F. & Rudenko, K. V. (ред.). The International Society for Optical Engineering, Том 11022. стр. 25 10 стр. 110221G. (Proceedings of SPIE; том 11022).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  12. Silicon oxides and silicon nitrides: Structure, properties and applications in memristors

    Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Kruchinin, V. N. & Gritsenko, V. A., 1 янв. 2019, International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2018. Lukichev, V. F. & Rudenko, K. V. (ред.). The International Society for Optical Engineering, Том 11022. стр. 33 8 стр. 1102212. (Proceedings of SPIE; том 11022).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  13. Swift heavy ion stimulated formation of the Si quantum dots in Si/SiO 2 multilayer heterostructures

    Kamaev, G. N., Cherkova, S. G., Gismatulin, A. A., Volodin, V. A. & Skuratov, V. A., 1 янв. 2019, International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2018. Lukichev, V. F. & Rudenko, K. V. (ред.). The International Society for Optical Engineering, Том 11022. стр. 71 6 стр. 1102213. (Proceedings of SPIE; том 11022).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  14. 2018

  15. Raman shifts and photoluminescence of the InSb nanocrystals ion beam-synthesized in buried SiO2 layers

    Tyschenko, I. E., Volodin, V. A., Cherkov, A. G., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Popov, V. P., 1 дек. 2018, в: Journal of Luminescence. 204, стр. 656-662 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  16. Aluminum-induced crystallization of silicon suboxide thin films

    Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Khmel, S. Y., Volodin, V. A., Vdovin, V. I. & Gutakovskii, A. K., 1 сент. 2018, в: Applied Physics A: Materials Science and Processing. 124, 9, 4 стр., 646.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  17. On the Formation of IR-Light-Emitting Ge Nanocrystals in Ge: SiO2 Films

    Volodin, V. A., Rui, Z., Krivyakin, G. K., Antonenko, A. K., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 1 сент. 2018, в: Semiconductors. 52, 9, стр. 1178-1187 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  18. Nanoscale potential fluctuations in nonstoichiometrics tantalum oxide

    Gritsenko, V. A., Volodin, V. A., Perevalov, T. V., Kruchinin, V. N., Gerasimova, A. K., Aliev, V. S. & Prosvirin, I. P., 15 авг. 2018, в: Nanotechnology. 29, 42, стр. 425202 9 стр., 425202.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  19. Nanostructuring few-layer graphene films with swift heavy ions for electronic application: Tuning of electronic and transport properties

    Nebogatikova, N. A., Antonova, I. V., Erohin, S. V., Kvashnin, D. G., Olejniczak, A., Volodin, V. A., Skuratov, A. V., Krasheninnikov, A. V., Sorokin, P. B. & Chernozatonskii, L. A., 14 авг. 2018, в: Nanoscale. 10, 30, стр. 14499-14509 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  20. Atomic and Electronic Structures of Metal-Rich Noncentrosymmetric ZrOx

    Gritsenko, V. A., Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kruchinin, V. N., Gerasimova, A. K. & Prosvirin, I. P., 1 авг. 2018, в: JETP Letters. 108, 4, стр. 226-230 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  21. Raman scattering in boron doped nanocrystalline diamond films: Manifestation of Fano interference and phonon confinement effect

    Volodin, V. A., Mortet, V., Taylor, A., Remes, Z., Stuchliková, T. H. & Stuchlik, J., 1 авг. 2018, в: Solid State Communications. 276, стр. 33-36 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  22. On Raman scattering cross section ratio of crystalline and microcrystalline to amorphous silicon

    Zhigunov, D. M., Kamaev, G. N., Kashkarov, P. K. & Volodin, V. A., 9 июл. 2018, в: Applied Physics Letters. 113, 2, 4 стр., 023101.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...4 5 6 7 8 9 Далее

ID: 3443008