71 - 80 из 162Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Optical properties of Si nanocrystals formed with laser pulse annealing

    Volodin, V. A., 2017, в: Materials Today: Proceedings. 4, 11, стр. 11402-11405 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Optical Properties of Nonstoichiometric Tantalum Oxide TaOx (x < 5/2) According to Spectral-Ellipsometry and Raman-Scattering Data

    Kruchinin, V. N., Volodin, V. A., Perevalov, T. V., Gerasimova, A. K., Aliev, V. S. & Gritsenko, V. A., 1 июн. 2018, в: Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya). 124, 6, стр. 808-813 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Optical properties of GeO[SiO] and GeO[SiO2] solid alloy layers grown at low temperature

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Zhang, F., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., дек. 2021, в: Optical Materials. 122, 111736.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Optical methods in diagnostics of liver fibrosis via blood observation

    Kruchinina, M. V., Generalov, V. M., Atuchin, V. V., Kruchinin, V. N., Volodin, V. A., Gromov, A. A. & Rykhlitsky, S. V., 1 янв. 2017, в: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 10176, 10 стр., 1017608.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  5. On the Formation of IR-Light-Emitting Ge Nanocrystals in Ge: SiO2 Films

    Volodin, V. A., Rui, Z., Krivyakin, G. K., Antonenko, A. K., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 1 сент. 2018, в: Semiconductors. 52, 9, стр. 1178-1187 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. On the Formation of Amorphous Ge Nanoclusters and Ge Nanocrystals in GeSixOy Films on Quartz Substrates by Furnace and Pulsed Laser Annealing

    Zhang Fan, F., Kochubey, S. A., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Volodin, V. A., 1 мар. 2020, в: Semiconductors. 54, 3, стр. 322-329 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. On Raman scattering cross section ratio of crystalline and microcrystalline to amorphous silicon

    Zhigunov, D. M., Kamaev, G. N., Kashkarov, P. K. & Volodin, V. A., 9 июл. 2018, в: Applied Physics Letters. 113, 2, 4 стр., 023101.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. On Raman scattering cross section ratio of amorphous to nanocrystalline germanium

    Hao, Z., Kochubei, S. A., Popov, A. A. & Volodin, V. A., июн. 2020, в: Solid State Communications. 313, 4 стр., 113897.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Non-thermal regimes of laser annealing of semiconductor nanostructures : crystallization without melting

    Mirza, I., Bulgakov, A. V., Sopha, H., Starinskiy, S. V., Tur, H., Smr, M., Volodin, V. A., Mocek, T., Macak, J. M. & Bulgakova, N. M., 2023, в: Frontiers in Nanotechnology. 5, стр. 1-12 12 стр., 1271832.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Nonstoichiometric Germanosilicate Films on Silicon for Microelectronics: Memristors and Other Applications

    Volodin, V. A., Zhang, F., Yushkov, I. D., Yin, L. & Kamaev, G. N., 2022, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 58, 6, стр. 584-593 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...4 5 6 7 8 9 10 11 ...17 Далее

ID: 3443008