1 - 10 из 16Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Transformation of N-Polar Inversion Domains from AlN Buffer Layers during the Growth of AlGaN Layers

    Osinnykh, I. V., Malin, T. V., Kozhukhov, A. S., Ber, B. Y., Kazancev, D. Y. & Zhuravlev, K. S., июн. 2022, в: Semiconductors. 56, 6, стр. 352-359 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Stimulated emission in heavily doped Al0.68Ga0.32N:Si structures with external cavity

    Bokhan, P. A., Fateev, N. V., Malin, T. V., Osinnykh, I. V., Zakrevsky, D. E. & Zhuravlev, K. S., дек. 2022, в: Journal of Luminescence. 252, 119392.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Radiation enhancement in doped AlGaN-structures upon optical pumping

    Bokhan, P. A., Zhuravlev, K. S., Zakrevsky, D. E., Malin, T. V., Osinnykh, I. V. & Fateev, N. V., 1 янв. 2017, в: Technical Physics Letters. 43, 1, стр. 46-49 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Properties of intensive defect-related band in photoluminescence spectra of heavily doped AlxGa1-xN: Si layers

    Osinnykh, I. V., Malin, T. V., Plyusnin, V. F. & Zhuravlev, K. S., 15 авг. 2017, в: Journal of Physics: Conference Series. 864, 1, 5 стр., 012071.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Optical Gain in Heavily Doped AlxGa1 – xN:Si Structures

    Bokhan, P. A., Zhuravlev, K. S., Zakrevsky, D. E., Malin, T. V., Osinnykh, I. V. & Fateev, N. V., 1 сент. 2019, в: Technical Physics Letters. 45, 9, стр. 951-954 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Optical gain and stimulated emission in optically pumped heavily doped Al0.74Ga0.26N:Si structures with external cavity

    Bokhan, P. A., Fateev, N. V., Malin, T. V., Osinnykh, I. V., Zakrevsky, D. E. & Zhuravlev, K. S., июл. 2020, в: Optical Materials. 105, 5 стр., 109879.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Nature of intensive defect-related broadband luminescence of heavily doped AlxGa1-xN: Si layers

    Osinnykh, I. V., Malin, T. V., Plyusnin, V. F., Zhuravlev, K. S., Ber, B. Y. & Kazantsev, D. Y., 11 апр. 2017, в: Journal of Physics: Conference Series. 816, 1, 6 стр., 012002.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Luminescence properties of heavily doped AlxGa1-xN/AlN films grown on sapphire substrate

    Bokhan, P. A., Fateev, N. V., Malin, T. V., Osinnykh, I. V., Zakrevsky, D. E. & Zhuravlev, K. S., 1 нояб. 2018, в: Journal of Luminescence. 203, стр. 127-134 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Light emission of heavily doped AlGaN structures under optical pumping

    Bokhan, P. A., Fateev, N. V., Osinnykh, I. V., Malin, T. V., Zakrevsky, D. E., Zhuravlev, K. S., Wei, X., Li, J. & Chen, L., 1 апр. 2018, в: Journal of Semiconductors. 39, 4, 6 стр., 043002.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Influence of substrate nitridation conditions and buffer layer structures on the crack-free GaN layers on silicon substrate grown by ammonia-assisted molecular beam epitaxy

    Malin, T., Maidebura, Y., Mansurov, V., Gavrilova, T., Gutakovsky, A., Vdovin, V., Ponomarev, S., Loshkarev, I., Osinnykh, I., Volodin, V., Milakhin, D. & Zhuravlev, K., 29 февр. 2024, в: Thin Solid Films. 791, 140246.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 Далее

ID: 3487138