281 - 290 из 476Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2019

  2. Features of the Impurity-Photoconductivity Spectra of PbSnTe(In) Epitaxial Films with Temperature Changes

    Ikonnikov, A. V., Chernichkin, V. I., Dudin, V. S., Akopian, D. A., Akimov, A. N., Klimov, A. E., Tereshchenko, O. E., Ryabova, L. I. & Khokhlov, D. R., 1 сент. 2019, в: Semiconductors. 53, 9, стр. 1272-1277 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Magnetic and Electronic Properties of Gd-Doped Topological Insulator Bi1.09Gd0.06Sb0.85Te3

    Filnov, S. O., Surnin, Y. A., Koroleva, A. V., Klimovskikh, I. I., Estyunin, D. A., Varykhalov, A. Y., Bokai, K. A., Kokh, K. A., Tereshchenko, O. E., Golyashov, V. A., Shevchenko, E. V. & Shikin, A. M., 1 сент. 2019, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 129, 3, стр. 404-412 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Modulation of Magneto-Intersubband Oscillations in a One-Dimensional Lateral Superlattice

    Bykov, A. A., Strygin, I. S., Goran, A. V., Nomokonov, D. V., Marchishin, I. V., Bakarov, A. K., Rodyakina, E. E. & Latyshev, A. V., 1 сент. 2019, в: JETP Letters. 110, 5, стр. 354-358 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Percolation description of charge transport in the random barrier model applied to amorphous oxide semiconductors

    Baranovskii, S. D., Nenashev, A. V., Oelerich, J. O., Greiner, S. H. M., Dvurechenskii, A. V. & Gebhard, F., 1 сент. 2019, в: EPL. 127, 5, 5 стр., 57004.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Photon-Assisted Electron Transmission through a Quantum Point Contact

    Tkachenko, O. A., Baksheev, D. G., Tkachenko, V. A., Kvon, Z. D., Yaroshevich, A. S., Rodyakina, E. E. & Latyshev, A. V., 1 сент. 2019, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 55, 5, стр. 480-487 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Plasmon-Enhanced Near-Field Optical Spectroscopy of Multicomponent Semiconductor Nanostructures

    Anikin, K. V., Milekhin, A. G., Rahaman, M., Duda, T. A., Milekhin, I. A., Rodyakina, E. E., Vasiliev, R. B., Dzhagan, V. M., Zahn, D. R. T. & Latyshev, A. V., 1 сент. 2019, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 55, 5, стр. 488-494 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Plasmonic Field Enhancement by Metallic Subwave Lattices on Silicon in the Near-Infrared Range

    Yakimov, A. I., Bloshkin, A. A. & Dvurechenskii, A. V., 1 сент. 2019, в: JETP Letters. 110, 6, стр. 411-416 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Real-time observation of self-interstitial reactions on an atomically smooth silicon surface

    Kosolobov, S., Nazarikov, G., Sitnikov, S., Pshenichnyuk, I., Fedina, L. & Latyshev, A., 1 сент. 2019, в: Surface Science. 687, стр. 25-33 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Surface Сonductivity Dynamics in PbSnTe:In Films in the Vicinity of a Band Inversion: In Films in the Vicinity of a Band Inversion

    Klimov, A. E., Akimov, A. N., Akhundov, I. O., Golyashov, V. A., Gorshkov, D. V., Ishchenko, D. V., Sidorov, G. Y., Suprun, S. P., Tarasov, A. S., Epov, V. S. & Tereshchenko, O. E., 1 сент. 2019, в: Semiconductors. 53, 9, стр. 1182-1186 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Atomic and electronic structures of the native defects responsible for the resistive effect in HfO2: ab initio simulations

    Perevalov, T. V. & Islamov, D. R., 15 авг. 2019, в: Microelectronic Engineering. 216, 5 стр., 111038.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...25 26 27 28 29 30 31 32 ...48 Далее

ID: 3084764