61 - 70 из 317Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Electromagnetic interference shielding performance of Ag/multi-walled carbon nanotubes-poly(methyl methacrylate) composites

    Kazakova, M. A., Golubtsov, G. V., Selyutin, A. G., Ishchenko, A. V., Serkova, A. N., Gorokhov, G. V., Misiyuk, P. Y. & Valynets, N. I., 1 окт. 2023, в: Materials Chemistry and Physics. 307, 14 стр., 128176.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Electromigration effect on the surface morphology during the Ge deposition on Si(1 1 1) at high temperatures

    Shklyaev, A. A. & Latyshev, A. V., 28 янв. 2019, в: Applied Surface Science. 465, стр. 10-14 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Electron and hole injection barriers between silicon substrate and RF magnetron sputtered In2O3 : Er films

    Feklistov, K. V., Lemzyakov, A. G., Shklyaev, A. A., Protasov, D. Y., Deryabin, A. S., Spesivsev, E. V., Gulyaev, D. V., Pugachev, A. M. & Esaev, D. G., 2023, в: Modern Electronic Materials. 9, 2, стр. 57-68 12 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Electron-Beam Crystallization of Thin Films of Amorphous Silicon Suboxide

    Baranov, E. A., Konstantinov, V. O., Shchukin, V. G., Zamchiy, A. O., Merkulova, I. E., Lunev, N. A. & Volodin, V. A., мар. 2021, в: Technical Physics Letters. 47, 3, стр. 263-265 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Electron-Beam Radiation Effects in Multilayer Structures Grown with the Periodical Deposition of Si and CaF2 on Si(111)

    Dvurechenskii, A. V., Kacyuba, A. V., Kamaev, G. N., Volodin, V. A., Stepina, N. P., Zinovieva, A. F. & Zinovyev, V. A., мая 2023, в: Materials Today: Proceedings. 14, 1, 68.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  6. Electronic structure of silicon oxynitride films grown by plasma-enhanced chemical vapor deposition for memristor application

    Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Gismatulin, A. A., Cherkova, S. G., Prosvirin, I. P., Astankova, K. N. & Gritsenko, V. A., 15 дек. 2022, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 598, 8 стр., 121925.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Electron Spin Resonance in Heterostructures with Ring Molecules of GeSi Quantum Dots

    Zinovieva, A. F., Zinovyev, V. A., Nenashev, A. V., Shklyaev, A. A., Kulik, L. V. & Dvurechenskii, A. V., янв. 2021, в: JETP Letters. 113, 1, стр. 52-56 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Electrophysical Properties of Polycrystalline C12A7:e− Electride

    Rybak, A. A., Yushkov, I. D., Nikolaev, N. A., Kapishnikov, A. V., Volodin, A. M., Krivyakin, G. K., Kamaev, G. N. & Geydt, P. V., 1 февр. 2022, в: Electronics (Switzerland). 11, 4, 668.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Electrostatic actuation and charge sensing in piezoelectric nanomechanical resonators with a two-dimensional electron gas

    Shevyrin, A. A., Pogosov, A. G., Bakarov, A. K. & Shklyaev, A. A., 3 мая 2021, в: Applied Physics Letters. 118, 18, 183105.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Ellipsometric thermometry in molecular beam epitaxy of mercury cadmium telluride

    Marin, D. V., Shvets, V. A., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., авг. 2021, в: Infrared Physics and Technology. 116, 103793.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...3 4 5 6 7 8 9 10 ...32 Далее

ID: 24342938