141 - 150 из 255Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Raman Scattering Spectroscopy and Photoluminescence of GaAs Nanowires

    Kalachev, I. V., Milekhin, I. A., Emel’yanov, E. A., Preobrazhenskii, V. V., Tumashev, V. S., Milekhin, A. G. & Latyshev, A. V., дек. 2023, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 59, 6, стр. 659-666 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Raman scattering spectroscopy of MBE grown thin film topological insulator Bi2−xSbxTe3−ySey

    Kumar, N., Surovtsev, N. V., Yunin, P. A., Ishchenko, D. V., Milekhin, I. A., Lebedev, S. P., Lebedev, A. A. & Tereshchenko, O. E., 12 апр. 2024, в: Physical Chemistry Chemical Physics. 26, 17, стр. 13497-13505 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Raman shifts and photoluminescence of the InSb nanocrystals ion beam-synthesized in buried SiO2 layers

    Tyschenko, I. E., Volodin, V. A., Cherkov, A. G., Stoffel, M., Rinnert, H., Vergnat, M. & Popov, V. P., 1 дек. 2018, в: Journal of Luminescence. 204, стр. 656-662 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Redirecting Incident Light with Mie Resonance-Based Coatings

    Shklyaev, A. A., Utkin, D. E., Zheng, Z. & Tsarev, A. V., нояб. 2023, в: Photonics. 10, 11, 1286.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Redistribution of Erbium and Oxygen Recoil Atoms and the Structure of Silicon Thin Surface Layers Formed by High-Dose Argon Implantation through Er and SiO2 Surface Films

    Feklistov, K. V., Cherkov, A. G., Popov, V. P. & Fedina, L. I., 1 дек. 2018, в: Semiconductors. 52, 13, стр. 1696-1703 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Regimes of enhanced electromagnetic emission in beam-plasma interactions

    Timofeev, I. V., Annenkov, V. V. & Arzhannikov, A. V., 1 нояб. 2015, в: Physics of Plasmas. 22, 11, 113109.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Remarkable enhancement of photoluminescence and photoresponse due to photonic crystal structures based on GeSiSn/Si multiple quantum wells

    Timofeev, V. A., Mashanov, V. I., Nikiforov, A. I., Skvortsov, I. V., Gayduk, A. E., Bloshkin, A. A., Kirienko, V. V., Utkin, D. E., Kolyada, D. V., Firsov, D. D. & Komkov, O. S., апр. 2023, в: Materials Today Physics. 33, 9 стр., 101052.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Resistive switching in non-stoichiometric germanosilicate glass films containing ge nanoclusters

    Volodin, V. A., Geydt, P., Kamaev, G. N., Gismatulin, A. A., Krivyakin, G. K., Prosvirin, I. P., Azarov, I. A., Fan, Z. & Vergnat, M., дек. 2020, в: Electronics (Switzerland). 9, 12, стр. 1-17 17 стр., 2103.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Resonance Raman Scattering of Topological Insulators Bi2Te3 and Bi2 − xSbxTe3 − ySey Thin Films

    Kumar, N., Surovtsev, N. V., Ishchenko, D. V., Yunin, P. A., Milekhin, I. A., Tereshchenko, O. E. & Milekhin, A. G., 26 нояб. 2024, в: Journal of Raman Spectroscopy. 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Resonance reflection of light by ordered silicon nanopillar arrays with the vertical p-n junction

    Basalaeva, L. S., Nastaushev, Y. V., Kryzhanovskaya, N. V., Moiseev, E. I., Radnatarov, D. A., Khripunov, S. A., Utkin, D. E., Chistokhin, I. B., Latyshev, A. V. & Dultsev, F. N., 28 февр. 2019, в: Thin Solid Films. 672, стр. 109-113 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...11 12 13 14 15 16 17 18 ...26 Далее

ID: 10000229