Possibilities of Characterizing the Crystal Parameters of Cd xHg1 – xTe Structures on GaAs Substrates by the Method of Generation of the Probe-Radiation Second Harmonic in Reflection Geometry › Обзор исследований

Исследовательский портал НГУ

Possibilities of Characterizing the Crystal Parameters of Cd_xHg_1 – _xTe Structures on GaAs Substrates by the Method of Generation of the Probe-Radiation Second Harmonic in Reflection Geometry

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

DOI

https://doi.org/10.1134/S1063783420020201
Конечная издательская версия

M. F. Stupak
N. N. Mikhailov
S. A. Dvoretskii
M. V. Yakushev
D. G. Ikusov
S. N. Makarov
A. G. Elesin
A. G. Verkhoglyad

Язык оригинала	английский
Страницы (с-по)	252-259
Число страниц	8
Журнал	Physics of the Solid State
Том	62
Номер выпуска	2
DOI	https://doi.org/10.1134/S1063783420020201
Состояние	Опубликовано - 28 февр. 2020

Предметные области OECD FOS+WOS

ID: 23664870