Near-field infrared spectroscopy of SiOx nanowires › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2022.152583
Конечная издательская версия

I. A. Milekhin
A. S. Kozhukhov
D. V. Sheglov
L. I. Fedina
A. G. Milekhin
A. V. Latyshev
D. R.T. Zahn

Язык оригинала	английский
Номер статьи	152583
Журнал	Applied Surface Science
Том	584
DOI	https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2022.152583
Состояние	Опубликовано - 15 мая 2022

Предметные области OECD FOS+WOS

2.05 ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ
1.03 ФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ И АСТРОНОМИЯ
1.04 ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ

ID: 35380045