Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование
Реализация терагерцовых фильтров высоких частот на основе цельнометаллических микроструктур с использованием глубокой рентгенолитографии. / Генцелев, А.Н.; Кузнецов, Сергей Александрович; Дульцев, Федор Николаевич и др.
в: Автометрия, Том 55, № 2, 2, 2019, стр. 14-27.Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование
}
TY - JOUR
T1 - Реализация терагерцовых фильтров высоких частот на основе цельнометаллических микроструктур с использованием глубокой рентгенолитографии
AU - Генцелев, А.Н.
AU - Кузнецов, Сергей Александрович
AU - Дульцев, Федор Николаевич
AU - Гольденберг, Борис Григорьевич
AU - Зелинский, А.Г.
AU - Кондратьев, В.И.
AU - Таныгина, Дарья Сергеевна
N1 - Геленцев А.Н., Кузнецов С.А., Дульцев Ф.Н., Гольденберг Б.Г., Зелинский А.Г., Кондратьев В.И., Таныгина Д.С. Реализация терагерцовых фильтров высоких частот на основе цельнометаллических микроструктур с использованием глубокой рентгенолитографии // Автометрия. - 2019. - Т. 55. - № 2. - С. 14-27
PY - 2019
Y1 - 2019
N2 - Описывается методика создания квазиоптических фильтров высоких частот терагерцового диапазона на базе толстых (толщиной до 1 мм) самонесущих медных микроструктур субволновой топологии. Методика основана на рентгенолитографическом формировании высокоаспектной резистивной маски из рентгенорезиста SU-8 на кремниевой подложке с использованием вольфрамового рентгеношаблона и последующим гальваническим выращиванием медного слоя через резистивную маску. Рассмотрен пример структуры толщиной 212 мкм с частотой отсечки 0,42 ТГц, имеющей топологию гексагонально упакованных отверстий шестиугольной формы. Представлены результаты широкополосной ТГц-характеризации полученной структуры и её электродинамического анализа.
AB - Описывается методика создания квазиоптических фильтров высоких частот терагерцового диапазона на базе толстых (толщиной до 1 мм) самонесущих медных микроструктур субволновой топологии. Методика основана на рентгенолитографическом формировании высокоаспектной резистивной маски из рентгенорезиста SU-8 на кремниевой подложке с использованием вольфрамового рентгеношаблона и последующим гальваническим выращиванием медного слоя через резистивную маску. Рассмотрен пример структуры толщиной 212 мкм с частотой отсечки 0,42 ТГц, имеющей топологию гексагонально упакованных отверстий шестиугольной формы. Представлены результаты широкополосной ТГц-характеризации полученной структуры и её электродинамического анализа.
KW - глубокая рентгеновская литография
KW - LIGA-технология
KW - микроструктуры
KW - квазиоптические фильтры
KW - терагерцовый диапазон
UR - https://www.elibrary.ru/item.asp?id=37268796
U2 - 10.15372/AUT20190202
DO - 10.15372/AUT20190202
M3 - статья
VL - 55
SP - 14
EP - 27
JO - Автометрия
JF - Автометрия
SN - 0320-7102
IS - 2
M1 - 2
ER -
ID: 22427176