61 - 70 из 98Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2019

  2. Evolution of Micropits on Large Terraces of the Si(111) Surface during High-Temperature Annealing

    Petrov, A. S., Sitnikov, S. V., Kosolobov, S. S. & Latyshev, A. V., 1 апр. 2019, в: Semiconductors. 53, 4, стр. 434-438 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Resonance reflection of light by ordered silicon nanopillar arrays with the vertical p-n junction

    Basalaeva, L. S., Nastaushev, Y. V., Kryzhanovskaya, N. V., Moiseev, E. I., Radnatarov, D. A., Khripunov, S. A., Utkin, D. E., Chistokhin, I. B., Latyshev, A. V. & Dultsev, F. N., 28 февр. 2019, в: Thin Solid Films. 672, стр. 109-113 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Electromigration effect on the surface morphology during the Ge deposition on Si(1 1 1) at high temperatures

    Shklyaev, A. A. & Latyshev, A. V., 28 янв. 2019, в: Applied Surface Science. 465, стр. 10-14 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. 2018

  6. Atomic Force Microscopy Local Oxidation of GeO Thin Films

    Astankova, K. N., Kozhukhov, A. S., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A. & Latyshev, A. V., 1 дек. 2018, в: Semiconductors. 52, 16, стр. 2081-2084 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. A highly porous surface of synthetic monocrystalline diamond: Effect of etching by Fe nanoparticles in hydrogen atmosphere

    Chepurov, A., Sonin, V., Shcheglov, D., Latyshev, A., Filatov, E. & Yelisseyev, A., 1 нояб. 2018, в: International Journal of Refractory Metals and Hard Materials. 76, стр. 12-15 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Controlling the Si(001) Surface Morphology upon Thermal Annealing in a Vacuum Chamber

    Rodyakina, E. E., Sitnikov, S. V., Rogilo, D. I. & Latyshev, A. V., 1 нояб. 2018, в: Russian Microelectronics. 47, 6, стр. 365-370 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Nanoantenna structures for the detection of phonons in nanocrystals

    Milekhin, A. G., Kuznetsov, S. A., Milekhin, I. A., Sveshnikova, L. L., Duda, T. A., Rodyakina, E. E., Latyshev, A. V., Dzhagan, V. M. & Zahn, D. R. T., 5 окт. 2018, в: Beilstein Journal of Nanotechnology. 9, стр. 2646-2656 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Giant Terahertz Photoconductance of Quantum Point Contacts in the Tunneling Regime

    Otteneder, M., Kvon, Z. D., Tkachenko, O. A., Tkachenko, V. A., Jaroshevich, A. S., Rodyakina, E. E., Latyshev, A. V. & Ganichev, S. D., 17 июл. 2018, в: Physical Review Applied. 10, 1, 9 стр., 014015.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. New Method of Porous Ge Layer Fabrication: Structure and Optical Properties

    Gorokhov, E. B., Astankova, K. N., Azarov, I. A., Volodin, V. A. & Latyshev, A. V., 1 мая 2018, в: Semiconductors. 52, 5, стр. 628-631 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. Thermal Smoothing and Roughening of GaAs Surfaces: Experiment and Monte Carlo Simulation

    Kazantsev, D. M., Akhundov, I. O., Alperovich, V. L., Shwartz, N. L., Kozhukhov, A. S. & Latyshev, A. V., 1 мая 2018, в: Semiconductors. 52, 5, стр. 618-621 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...3 4 5 6 7 8 9 10 Далее

ID: 3436806