71 - 80 из 94Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Semiconductor nanostructures for modern electronics

    Aseev, A. L., Latyshev, A. V. & Dvurechenskii, A. V., 2020, Advanced Research in Materials Science III. Davaasambuu, J. (ред.). Trans Tech Publications Ltd, стр. 65-80 16 стр. (Solid State Phenomena; том 310 SSP).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  2. Sn-mediated transformations on Si(111) surface: reconstructions, electromigration, homoepitaxy

    Petrov, A. S., Rogilo, D. I., Vergules, A. I., Mansurov, V. G., Sheglov, D. V. & Latyshev, A. V., мар. 2024, в: Surface Science. 741, 13 стр., 122418.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. SOI-FET Sensors with Dielectrophoretic Concentration of Viruses and Proteins

    Naumova, O., Generalov, V., Shcherbakov, D., Zaitseva, E., Zhivodkov, Y., Kozhukhov, A., Latyshev, A., Aseev, A., Safatov, A., Buryak, G., Cheremiskina, A., Merkuleva, J. & Rudometova, N., 8 нояб. 2022, в: Biosensors. 12, 11

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Step bunching phenomena on Si(0 0 1) surface induced by DC heating during sublimation and Si deposition

    Rodyakina, E. E., Sitnikov, S. V., Rogilo, D. I. & Latyshev, A. V., 15 авг. 2019, в: Journal of Crystal Growth. 520, стр. 85-88 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Structural transitions on Si(1 1 1) surface during Sn adsorption, electromigration, and desorption studied by in situ UHV REM

    Petrov, A. S., Rogilo, D. I., Zhachuk, R. A., Vergules, A. I., Sheglov, D. V. & Latyshev, A. V., 30 янв. 2023, в: Applied Surface Science. 609, 155367.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Study of Structural Modification of Composites with Ge Nanoclusters by Optical and Electron Microscopy Methods

    Astankova, K. N., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A., Volodin, V. A. & Latyshev, A. V., 1 дек. 2019, в: Semiconductors. 53, 16, стр. 2064-2067 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Surface-Enhanced Infrared Absorption by Optical Phonons in Nanocrystal Monolayers on Au Nanoantenna Arrays

    Milekhin, A. G., Kuznetsov, S. A., Sveshnikova, L. L., Duda, T. A., Milekhin, I. A., Rodyakina, E. E., Latyshev, A. V., Dzhagan, V. M. & Zahn, D. R. T., 16 мар. 2017, в: Journal of Physical Chemistry C. 121, 10, стр. 5779-5786 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Surface enhanced IR absorption by cortisol molecules

    Milekhin, I. A., Kuznetsov, S. A., Milekhin, A. G., Duda, T. A., Cherkasova, O. P., Rodyakina, E. E. & Latyshev, A. V., 1 янв. 2018, в: Journal of Physics: Conference Series. 1092, 012087.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  9. Surface Morphologies Obtained by Ge Deposition on Bare and Oxidized Silicon Surfaces at Different Temperatures

    Shklyaev, A. A., Romanyuk, K. N., Kosolobov, S. S. & Latyshev, A. V., 1 янв. 2017, Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications: Growth, Characterization, Properties and Applications. Latyshev, AV., Dvurechenskii, AV. & Aseev, AL. (ред.). Elsevier Science Publishing Company, Inc., стр. 325-344 20 стр. (Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › глава/раздел › научная › Рецензирование

  10. Thermal Hysteresis in the Resistance of In2Se3Film on Si(111) Surface

    Ponomarev, S., Rogilo, D., Mironov, A., Sheglov, D. & Latyshev, A., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 50-53 4 стр. 9507592. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Назад 1...4 5 6 7 8 9 10 Далее

ID: 3436806