Кафедра физики полупроводников ФФ

Контактное лицо

Результаты исследований

  1. Контроль формирования слоев графена на подложках 6H-SiC(0001) методом in situ дифракции быстрых электронов на отражение

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  2. Capture zone scaling in 2D Ge island nucleation on Si(111)-(7 × 7) at elevated temperatures

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Sn-mediated transformations on Si(111) surface: reconstructions, electromigration, homoepitaxy

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

Просмотреть все (4) »

ID: 3542389