71 - 80 из 82Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2022

  2. Near-field infrared spectroscopy of SiOx nanowires

    Milekhin, I. A., Kozhukhov, A. S., Sheglov, D. V., Fedina, L. I., Milekhin, A. G., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., 15 мая 2022, в: Applied Surface Science. 584, 152583.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. SOI-FET Sensors with Dielectrophoretic Concentration of Viruses and Proteins

    Naumova, O., Generalov, V., Shcherbakov, D., Zaitseva, E., Zhivodkov, Y., Kozhukhov, A., Latyshev, A., Aseev, A., Safatov, A., Buryak, G., Cheremiskina, A., Merkuleva, J. & Rudometova, N., 8 нояб. 2022, в: Biosensors. 12, 11

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Interdisk spacing effect on resonant properties of Ge disk lattices on Si substrates

    Shklyaev, A. A., Utkin, D. E., Tsarev, A. V., Kuznetsov, S. A., Anikin, K. V. & Latyshev, A. V., дек. 2022, в: Scientific Reports. 12, 1, 8123.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. 2023

  6. Спектроскопия комбинационного рассеяния света и фотолюминесценция нанопроволок GaAs

    Калачев, И. В., Milekhin, I., Емельянов, Е. А., Преображенский, В. В., Тумашев, В. С. & Латышев, А. В., 2023, в: Автометрия. 59, 6, стр. 3-11 9 стр., 1.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Structural transitions on Si(1 1 1) surface during Sn adsorption, electromigration, and desorption studied by in situ UHV REM

    Petrov, A. S., Rogilo, D. I., Zhachuk, R. A., Vergules, A. I., Sheglov, D. V. & Latyshev, A. V., 30 янв. 2023, в: Applied Surface Science. 609, 155367.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Kinetically driven thermal roughening of semiconductor surfaces: experiment on GaAs and Monte Carlo simulation

    Kazantsev, D. M., Akhundov, I. O., Kozhuhov, A. S., Khoroshilov, V. S., Shwartz, N. L., Alperovich, V. L. & Latyshev, A. V., 1 мар. 2023, в: Physica Scripta. 98, 3, 035702.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Plasmon-Enhanced Raman Scattering by Multilayered Graphene at the Micro- and Nanoscale: SERS and TERS Analysis

    Kurus, N. N., Milekhin, I. A., Nebogatikova, N. A., Antonova, I. V., Rodyakina, E. E., Milekhin, A. G., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., 16 мар. 2023, в: Journal of Physical Chemistry C. 127, 10, стр. 5013-5020 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Local phonon imaging of AlN nanostructures with nanoscale spatial resolution

    Milekhin, I., Anikin, K., Kurus, N. N., Mansurov, V. G., Malin, T. V., Zhuravlev, K. S., Milekhin, A. G., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., 16 мая 2023, в: Nanoscale Advances. 5, 10, стр. 2820-2830 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Effect of Mie resonances in coatings consisting of dielectric particles on the light propagation in substrate surface layers

    Shklyaev, A. A., Utkin, D. E., Tsarev, A. V. & Latyshev, A. V., сент. 2023, в: Optical Materials. 143, 114171.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. Raman Scattering Spectroscopy and Photoluminescence of GaAs Nanowires

    Kalachev, I. V., Milekhin, I. A., Emel’yanov, E. A., Preobrazhenskii, V. V., Tumashev, V. S., Milekhin, A. G. & Latyshev, A. V., дек. 2023, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 59, 6, стр. 659-666 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...4 5 6 7 8 9 Далее

ID: 3436806